[发明专利]显示器及其接合阻抗的检测系统以及检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种显示器及其接合阻抗的检测系统以及检测方法。

背景技术

一般来说，显示器除了显示面板之外，还包括了电路板以及驱动芯片以驱动显示面板的影像显示。通常显示器在制作完成之后，都会进行一系列的检测程序以确认显示器的显示质量是否符合标准。

目前，对于显示面板与电路板之间的接合阻抗以及显示面板与驱动芯片之间的接合阻抗的检测方式，是使用自动光学检测机台来进行。但是，自动光学检测机台仅能判断出显示面板与电路板之间以及显示面板与驱动芯片之间的压合导电颗粒数量以及相对位置是否正常。换言之，自动光学检测机台无法检测出显示面板与电路板之间以及显示面板与驱动芯片之间实际的接合阻抗值是多少。

另一种接合阻抗的检测方式是另外提供电压给显示面板上的两相邻的导线上以判断是否有短路现象，进而确认是否有压合异常的情形。对于此种检测方法，若有压合缺陷时通常会直接反应在点亮的显示面板上(例如有闪烁或过度耗电流等等)，但是并非所有的压合缺陷都可以都能通过此种方法检测出来，因而经常造成遗漏筛选出不良品的情形。而且上述方法也较为复杂且费时。

发明内容

本发明提供一种显示器及其接合阻抗的检测系统以及检测方法，其可以精确且快速地检测出接合阻抗是否正常。

本发明提出一种显示器的接合阻抗的检测系统，包括显示面板、至少一电路板、至少一驱动芯片以及测试板。显示面板具有至少一测试导线以及多条连接导线。电路板与显示面板的测试导线以及连接导线电性连接。驱动芯片包括多个连接接点以及至少一测试接点，其分别与显示面板的连接导线以及测试导线电性连接；至少一比较器，其与测试接点电性连接；以及至少一判断逻辑电路，其与比较器电性连接。测试板与电路板电性连接。特别是，测试板提供测试信号，且测试信号经电路板与测试导线而传递至驱动芯片的测试接点之后，测试信号在比较器中与参考信号比较，再由判断逻辑电路判断所述比较器的比较结果。

本发明另提出一种显示器的检测方法，此方法包括提供显示器，其包括显示面板、与显示面板电性连接的至少一电路板及至少一驱动芯片以及与电路板电性连接的测试板，且上述的显示面板具有至少一测试导线以及多条连接导线。接着进行接合阻抗的测试程序，所述程序包括由测试板提供测试信号，其中测试信号经电路板与测试导线而传递至驱动芯片。将测试信号与参考信号进行比较。倘若测试信号大于参考信号时，则经连接导线其中之一输出第一信号。倘若测试信号小于参考信号时，则经连接导线其中之一输出第二信号。

本发明再提出一种显示器，包括显示面板、至少一电路板以及至少一驱动芯片。显示面板具有至少一测试导线以及多条连接导线。电路板与显示面板的测试导线以及连接导线。驱动芯片包括多个连接接点以及至少一测试接点，其分别与显示面板的连接导线以及测试导线电性连接；至少一比较器，其与测试接点电性连接；以及至少一判断逻辑电路，其与比较器电性连接。

基于上述，本发明在驱动芯片上设置测试接点并且设置对应的比较器以及判断逻辑电路，通过比较器以及判断逻辑电路的输出信号来判断接合阻抗的良莠。因此本发明的检测系统及检测方法相较于传统方法具有更精确判断接合阻抗良莠以及更快速完成检测的优点。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附附图作详细说明如下。

附图说明

图1是根据本发明一实施例的显示器的接合阻抗的检测系统的示意图；

图2是图1的显示面板的示意图；

图3是图1的显示面板、电路板与驱动芯片的侧视示意图；

图4是根据本发明另一实施例的显示器的接合阻抗的检测系统的示意图；

图5是根据本发明一实施例的显示器的检测方法的流程图；

图6A以及图6B是根据本发明的实施例的显示器的示意图。

其中，附图标记

100：显示面板              102：基板

104：非显示区              106：显示区

108：压合区                110：连接导线

110a：导线                 110b：接垫

112：测试导线              112a：导线

112b：测试接垫             200：电路板

202：导线                  300：驱动芯片

302：连接接点              304：测试接点

306：比较器                308：判断逻辑电路