[发明专利]用于存储器的可定制纠错的方法和设备

说明书

技术领域

本发明的实施方式总体上涉及存储器中的纠错领域。更具体地，本发明的实施方式涉及具有模拟感测的可定制纠错。

背景技术

电子设备可能需要纠错以访问包含在这些设备内的存储器。纠错码(ECC)或前向纠错(FEC)码是被添加到发送方的消息中的冗余数据。如果错误的数目在正使用的代码的容量范围内，则接收方可以使用额外的信息来发现这些错误的位置并纠正这些错误。纠错码被用于计算机数据存储中。

由于技术的发展，将来的高密度存储器，特别是非易失性存储器，将会呈现出在10E-3范围内的高原始误码率。通常的ECC机不能很好地满足这些需求。另外，不同的ECC需求和不同的产品开发造成设计、开发、测试和制造成本问题以及投入市场的附加时间。

发明内容

根据本发明的一方面，提供了一种设备，该设备包括：

用于存储数据的存储器阵列；

耦合到所述存储器阵列的模数感测单元，该模数感测单元用于感测与所述存储器阵列相关联的模拟信号并用于将所述模拟信号转换成数字值的分布；以及

耦合到所述模数感测单元的纠错码单元，该纠错码单元用于从所述模数感测单元接收数字值的分布并获得具有与数字值的分布相关联的错误概率值的错误概率数据。

根据本发明的另一方面，提供了一种数据处理装置，该数据处理装置包括：

具有至少一个处理器核的处理单元；以及

耦合到所述处理单元的系统存储器，该系统存储器具有包括用于存储数据的存储器阵列的集成电路装置；

耦合到所述存储器阵列的模数感测单元，该模数感测单元用于感测与所述存储器阵列相关联的模拟信号，并将所述模拟信号转换成数字值的分布；以及

耦合到所述模数感测单元的纠错码单元，该纠错码单元用于从所述模数感测单元接收所述数字值的分布并获得具有与所述数字值的分布相关联的错误概率值的错误概率数据。

根据本发明的又一方面，提供了一种方法，该方法包括：

在存储器阵列中存储数据；

使用模数感测单元来感测与所述存储器阵列相关联的模拟信号；

使用所述模数感测单元将所述模拟信号转换成数字值的分布；

将所述数字值的分布从所述模数感测单元发送到纠错码单元；以及

生成与每个数字值相关联的错误概率数据。

附图说明

在附图中以示例的方式而非限制的方式示出了本发明的一个或多个实施方式，其中相似的参考标记指示相似的元件，其中：

图1示出了根据一个实施方式的数据处理装置；

图2示出了根据一个实施方式的提供具有可定制纠错的存储器访问的设备；

图3示出了根据另一个实施方式的提供具有可定制纠错的存储器访问的设备；

图4示出了根据一个实施方式的单元电流和电压阈值分布以及由模数感测单元生成的数字值的可能栅格(grid)；

图5示出了根据一个实施方式的模数感测单元的示例性实施方式；

图6示出了根据另一个实施方式的由模数感测单元生成的数字值的分布；

图7示出了根据一个实施方式的用于存储器装置中的纠错的方法。

具体实施方式

在此描述了一种提供用于存储器阵列的可定制纠错的方法和设备。在一个实施方式中，设备包括存储器装置，该存储器装置具有存储器单元阵列以存储数据。存储器单元布置成n行和m列。该设备还包括用于选择和适当地偏置所述单元的解码模块，和耦合到存储器阵列的模数感测单元。模数感测单元感测与存储器阵列单元相关联的模拟信号(例如电流或阈值电压)，并将所述模拟信号转换成数字值的分布。该设备还包括耦合到模数感测单元的纠错码(ECC)单元。该ECC单元从模数感测单元接收数字值的分布。可配置查找表生成包括错误概率数据的ECC参数，并将ECC参数提供给ECC单元以用于纠错。错误概率数据包括与数字值的分布相关联的错误概率值。ECC单元执行ECC算法以使用错误概率数据来提供纠错。

可配置查找表基于模拟信号的分布来更新错误概率数据。与存储器阵列相关联的感测到的模拟信号和相应的数字值可以在存储器阵列的产品寿命期间改变，例如由于制造过程中的分布范围或由于电压和/或温度操作条件的变化。可配置查找表在能够更新分配给每个数字值的“错误概率”方面提供了很大的灵活性。在产生与温度或电压操作相关的变化的情况下，能够使用来自电压或温度传感器的输入来改变错误概率以更新查找表的值。