[发明专利]信号发生器

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路测试技术，尤其涉及一种信号发生器。

背景技术

在集成电路测试中经常遇到这样的情形：待测试的原器件是可驱动多个外围器件工作的器件，在不同的工作频率和电源电压下，该待测试的原器件控制不同的外围器件开关工作，实现电压检测控制切换，而测试机为芯片提供的电源电压为恒定的直流电压，例如，待测试的原器件可驱动两个外围器件(分别称为第一外围器件和第二外围器件)工作，在某一频率和偏置电压的高低电平条件内，待测试的原器件驱动第一外围器件工作，在不同/相同频率或不同/相同偏置电压的高低电平条件内，待测试的原器件驱动第二外围器件工作，而测试机提供的电源电压为直流电压(不具有波形)，为达到测试目的，还需要能够产生具有波形信号的信号发生器。现有技术中的信号发生器结构复杂、制造成本高。

发明内容

本发明的目的在于提供一种信号发生器，在偏置电压上叠加波形，产生具有各种波形的信号，其结构简单、制造成本低。

为了达到上述的目的，本发明提供一种信号发生器，包括上位机、存储器、单片机、波形发生器、偏置发生电路和叠加电路；所述存储器与所述单片机双向连接，该存储器用于保存设置条件；所述上位机与所述单片机连接，该上位机用于输入设置条件、更改设置条件以及选择设置条件；所述波形发生器与所述单片机连接，由所述单片机根据选择的设置条件控制其产生波形；所述偏置发生电路与所述叠加电路连接，所述叠加电路用于将所述波形叠加到所述偏置发生电路产生的偏置电压上，以形成需要的波形的信号。

上述信号发生器，其中，还包括幅度调整电路和D/A转换器，所述幅度调整电路设置在所述波形发生器与所述叠加电路之间，所述D/A转换器与所述幅度调整电路相连，所述幅度调整电路将接收到的所述D/A转换器的输出信号以及所述波形发生器产生的波形进行整合，按照一定的输入输出关系进行振幅调节，并以调节振幅后的波形作为叠加到所述偏置电压上的波形。

上述信号发生器，其中，所述幅度调整电路的调节精度为±2mV。

上述信号发生器，其中，还包括驱动电路，所述驱动电路与所述叠加电路连接，该驱动电路用于增大所述叠加电路输出信号的功率。

上述信号发生器，其中，所述设置条件定义所述波形发生器的各种参数。

上述信号发生器，其中，所述波形发生器产生方波、三角波、正弦波或余弦波。

上述信号发生器，其中，所述波形发生器产生的波形的频率调节范围为1Hz～10MHz，调节精度在1KHz以内。

上述信号发生器，其中，所述波形发生器产生的波形以0V为参考点，振幅为±1V。

上述信号发生器，其中，所述偏置发生电路与所述叠加电路实现将波形叠加在-18V～+18V的电压上。

本发明的信号发生器结构简单、且大多电路元件可采用市场上可购买到的、价格不高的芯片，大大降低了信号发生器的制造成本低。

附图说明

本发明的信号发生器由以下的实施例及附图给出。

图1是本发明信号发生器实施例一的结构示意图。

图2是本发明信号发生器实施例二的结构示意图。

图3是本发明信号发生器实施例三的结构示意图。

具体实施方式

以下将结合图1～图3对本发明的信号发生器作进一步的详细描述。

实施例一：

参见图1，本实施例的信号发生器包括上位机100、存储器200、单片机300、波形发生器400、偏置发生电路500和叠加电路600；

所述存储器200与所述单片机300双向连接，该存储器200用于保存设置条件；

所述设置条件定义所述波形发生器400的各种参数，例如波形类型、频率等；

所述上位机100与所述单片机300连接，该上位机100用于输入设置条件、更改设置条件以及选择设置条件；

保存在所述存储器200中的原始设置条件由所述上位机100输入，并通过所述单片机300保存至所述存储器200内；

所述上位机100可通过所述单片机300更改所述存储器200中的设置条件，并将更改后的设置条件保存在所述存储器200内；

所述存储器200内保存的设置条件不止一个，不同的设置条件决定所述波形发生器400产生不同类型、不同频率的波形；