[发明专利]碳酸盐岩储层预测方法无效
| 申请号: | 201010534865.8 | 申请日: | 2010-11-08 |
| 公开(公告)号: | CN102465699A | 公开(公告)日: | 2012-05-23 |
| 发明(设计)人: | 李宗杰;杨林;张永升;李海英;袁国芬;石玉;梁彩芳 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司 |
| 主分类号: | E21B49/00 | 分类号: | E21B49/00 |
| 代理公司: | 北京市浩天知识产权代理事务所 11276 | 代理人: | 刘云贵 |
| 地址: | 100728 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 碳酸盐 岩储层 预测 方法 | ||
技术领域
本发明涉及地质和石油开发,具体涉及一种碳酸盐岩储层预测方法。
背景技术
塔河油田的主体为奥陶系碳酸盐岩缝洞型油藏,主要储层类型为缝洞型储层,储集体受岩溶、裂缝控制,形态复杂,纵横向非均质性强,埋藏深,地震反射信号弱,其勘探开发难度很大。早期塔河油田奥陶系的勘探,主要使用构造图技术寻找构造高作为钻探目标,取得了突出效果,如S48、S46井等井的部署。通过后期的不断钻探发现,塔河奥陶系碳酸盐岩油气不完全受局部构造的控制,属于阿克库勒凸起整体含油,只要找到优质储层,就有可能获得油气。因此对奥陶系碳酸盐岩缝洞型储层的预测成为勘探的关键问题。
通过钻探及理论研究发现,地震剖面上的“串珠”反射是储层发育的地震响应,而早期的振幅属性及简单算法的相干属性,虽然在在一定程度反映了储层的变化,但不够准确,受诸多因素的影响,如上覆地层岩性及接触关系等变化的影响,不能在平面上很好地表现剖面上串珠发育的型态,此时引入了振幅变化率技术,振幅变化率技术突出了的振幅突变的边界,完整地表达了串珠的平面型态,与上覆地层的岩性变化没有关系,而只与储层的横向变化有关,可以较好的表征塔河地区储层发育的区域。
发明内容
本发明需要解决的技术问题是,如何提供一种碳酸盐岩储层预测方法,能预测溶洞的展布,精细刻画“串珠状”反射在平面上的分布特征,使储层发育在区域上更具有规律性。
本发明的技术问题这样解决:构建一种碳酸盐岩储层预测方法,包括以下步骤:
1.1)获取测试对象的地震反射波振幅;
1.2)根据所述反射波振幅计算振幅变化率;
1.3)依强弱标准和所述振幅变化率大小对测试对象进行储层预测。
按照本发明提供的预测方法,所述步骤1.2)中计算的公式是:AVR=SQRT[(damp/dx)2+(damp/dy)2],式中:AVR是振幅变化率,amp为地震反射波振幅值,x为振幅横向坐标,y为振幅纵向坐标,SQRT为开平方根。
按照本发明提供的预测方法,所述步骤1.3)包括预测测试对象位于强振幅变化率(振幅变化率数值相对大)的区域为储层发育区,具体的:通过对塔河油田12区投产井的振幅变化率值进行统计分析,12区中高产井的中下奥陶统顶以下0~20ms、20~40ms的平均振幅变化率值分别为75、77,占统计总井数的42%,对应的缝洞最为发育,单井平均的产量最高;中低产井0~20ms、20~40ms的平均振幅变化率值分别为52、53.4,占统计总井数的16%;低产井0~20ms、20~40ms的平均振幅变化率值分别为53、75,占统计总井数的22%;未建产井0~20ms、20~40ms的平均振幅变化率值分别为51、60,占统计总井数的20%,0~20ms对应的缝洞最不发育。
按照本发明提供的预测方法,所述步骤1.3)包括预测测试对象位于强振幅变化率区域且靠近断裂带的区域为储层发育区。
按照本发明提供的预测方法,所述步骤1.3)包括预测测试对象位于正地形(残丘,褶皱)、强振幅变化率且靠近断裂带的区域为储层发育区。
按照本发明提供的预测方法,一般而言,所述强振幅变化率是指振幅变化率值在50-80之间。
本发明提供的碳酸盐岩储层预测方法,从塔河早期的主体区,到现在的外围区,振幅变化率技术一直是井位部署的关键技术,通过对塔河地区钻井的统计表明,利用地震振幅变化率技术预测碳酸盐岩岩溶缝洞型储层的成功率达到90%以上。
附图说明
图1是本发明碳酸盐岩预测评估方法流程示意图。
具体实施方式
首先,说明本发明思路:
随着塔河油田奥陶系碳酸盐岩油藏含油气面积的不断扩大,下奥陶统储层的上覆地层也变得较为复杂,有些区域为石炭系巴楚组泥岩,有些区域,上覆地层为中上奥陶统灰岩。岩性组合的变化造成下奥陶统顶面附近的地震反射振幅本身存在着差异,为了消除这种影响,突出振幅横向变化,预测溶洞的展布,精细刻画“串珠状”反射在平面上的分布特征,使储层发育在区域上更具有规律性,引入了振幅变化率的计算方法。
第二步,说明本发明基础:
振幅变化率的公式为:
AVR=SQRT[(damp/dx)2+(damp/dy)2]
式中:AVR:振幅变化率,amp:为振幅值,x为振幅横向坐标,y为振幅纵向坐标,SQRT为开平方根。
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