[发明专利]一种影像成像装置、方法及放射治疗设备无效
| 申请号: | 201010533500.3 | 申请日: | 2010-11-02 |
| 公开(公告)号: | CN102462503A | 公开(公告)日: | 2012-05-23 |
| 发明(设计)人: | 张圈世;孙启银 | 申请(专利权)人: | 北京大基康明医疗设备有限公司 |
| 主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;A61N5/10 |
| 代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静 |
| 地址: | 100176 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 影像 成像 装置 方法 放射 治疗 设备 | ||
1.一种影像成像装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取能量大于10MeV的X射线;
成像模块,用于在所述能量大于10MeV的X射线与物质进行作用时,得到所述物质的影像。
2.根据权利要求1所述的影像成像装置,其特征在于,所述成像模块包括:
X射线接收单元,用于在所述能量大于10MeV的X射线与物质进行作用时,获取入射的X射线;
成像单元,用于根据所述物质被入射的X射线作用的截面大小,得到所述物质的影像。
3.根据权利要求2所述的影像成像装置,其特征在于,所述物质被作用的截面大小满足以下公式:
当hv>2mec2时,σp∞Z2hv;
当hv>>2mec2时,σp∞Z2ln(hv);
其中,hv为X射线的能量,mec2为电子的静止能量,σp为电子对效应作用时所述物质被作用的截面大小,所述截面是X射线与物质相互作用发生几率大小的物理量,Z为X射线作用的物质的原子序数。
4.根据权利要求3所述的影像成像装置,其特征在于,所述截面与X射线与物质作用时的质量衰减系数满足如下关系:
其中,为电子对效应作用时X射线与物质作用时的质量衰减系数,NA为阿伏伽德罗常数,MA为物质的摩尔质量;
相应的,所述满足如下关系:
当hv>2mec2时,
当hv>>2mec2时,
5.一种影像成像方法,其特征在于,包括:
获取能量大于10MeV的X射线;
在所述能量大于10MeV的X射线与物质进行作用时,得到所述物质的影像。
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