[发明专利]一种相位检测电路

说明书

技术领域

本发明涉及一种应用电路，具体的涉及一种相位检测电路。

背景技术

现有的相位检测电路形形色色种类繁多，但大多结构复杂，功能复杂，而在一些只需要功能单一的应用场合下，往往是采用复杂电路结构的相位检测电路来完成单一功能的相位检测功能，这样一方面成本会有所提高，另外一方面，电路结构一旦复杂化后，其背后的不稳定因素也在增加，如此便在无形之中降低了产品合格率。

发明内容

为克服现有技术中的不足，本发明的目的在于提供一种结构简单的相位检测电路。

为了解决上述技术问题，实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

一种相位检测电路，包括一检测芯片，所述检测芯片的检测端口A/D连接在一光耦U1的集电极输出端，光耦U1的集电极输出端连接一上拉电阻R3，所述光耦U1的发射极输出端接地，所述光耦U1的第一输入端连接电阻R2，所述电阻R2连接电阻R1，所述电阻R1连接二极管D1，所述二极管D1连接检测端N，所述光耦U1的第二输入端接地。

进一步的，所述光耦U1的集电极输出端与发射极输出端之间跨接有一滤波电容C2。

进一步的，所述光耦U1的第一输入端与第二输入端之间跨接有一滤波电容C1。

进一步的，所述光耦U1的第一输入端与第二输入端之间跨接有一隧道二极管D2。

本发明的相位检测电路的工作过程如下：

当检测端N有电压时，电压通过二极管D1和电阻R1、R2使光耦U1的集电极输出端与发射极输出端导通，那么检测芯片的检测端口A/D的电压就低于3V。相位检测，正常时电压为高，当电压低于3V时判为相位接错。

本发明具有以下优点：

本发明的相位检测电路结构简单，使用方便。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。本发明的具体实施方式由以下实施例及其附图详细给出。

附图说明

图1为本发明的相位检测电路的电路原理图。

图中标号说明：1、光耦U1的第一输入端，2、光耦U1的第二输入端，3、光耦U1的发射极输出端，4、光耦U1的集电极输出端，5、检测芯片。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明的技术实施过程做进一步说明。

参见图1所示，一种相位检测电路，包括一检测芯片5，所述检测芯片5的检测端口A/D连接在一光耦U1的集电极输出端4，光耦U1的集电极输出端4连接一上拉电阻R3，所述光耦U1的发射极输出端3接地，所述光耦U1的第一输入端1连接电阻R2，所述电阻R2连接电阻R1，所述电阻R1连接二极管D1，所述二极管D1连接检测端N，所述光耦U1的第二输入端2接地。

进一步的，所述光耦U1的集电极输出端4与发射极输出端3之间跨接有一滤波电容C2。

进一步的，所述光耦U1的第一输入端1与第二输入端2之间跨接有一滤波电容C1。

进一步的，所述光耦U1的第一输入端1与第二输入端2之间跨接有一隧道二极管D2。

上述实施例只是为了说明本发明的技术构思及特点，其目的是在于让本领域内的普通技术人员能够了解本发明的内容并据以实施，并不能以此限制本发明的保护范围。凡是根据本发明内容的实质所作出的等效的变化或修饰，都应涵盖在本发明的保护范围内。