[发明专利]多点触摸表面控制器

权利要求书

1.一种用于检测在触摸传感器面板的一个或多个触摸像素处的电容变化的电荷放大器，包括：

具有反相输入端、正相输入端以及输出端的运算放大器，所述正相输入端耦接到所述一个或多个触摸像素；

连接在所述输出端和所述反相输入端之间的反馈电容器，其中所述反馈电容器可编程为具有一定范围的值；和

连接在所述输出端和所述反相输入端之间的反馈电阻器，其中所述反馈电阻器可编程为具有一定范围的值。

2.如权利要求1所述的电荷放大器，其中所述电荷放大器还包括耦接在所述正相输入端和所述一个或多个触摸像素之间以与所述反馈电阻器和所述反馈电容器结合形成抗混叠滤波器的电阻器。

3.如权利要求1所述的电荷放大器，其中所述运算放大器的所述正相输入被耦接到地。

4.如权利要求1所述的电荷放大器，所述反馈电容器的值被选择为使所述电荷放大器的动态范围最大。

5.如权利要求1所述的电荷放大器，所述反馈电容器被配置为基于每个像素提供不同的值。

6.如权利要求1所述的电荷放大器，还包括用于设置所述反馈电容器的值的寄存器。

7.如权利要求6所述的电荷放大器，所述寄存器包括值的查找表，所述查找表被配置成为每个触摸像素提供反馈电容器的值。

8.一种用于检测在触摸传感器面板的一个或多个触摸像素处的电容变化的方法，包括：

提供触摸像素感测线的虚接地电荷放大，以便在抑制寄生电阻和电容的影响的同时检测在所述一个或多个触摸像素处的电容变化；以及

可编程地优化所述虚接地电荷放大的动态范围。

9.如权利要求8所述的方法，还包括可编程地对所述虚接地电荷放大执行增益补偿。

10.如权利要求8所述的方法，还包括基于每个像素优化所述虚接地电荷放大的动态范围以解决制造公差。

11.一种触摸传感器面板，包括：

多个触摸像素；以及

耦接到所述多个触摸像素的一个或多个电荷放大器，用于检测在所述多个触摸像素中的每个触摸像素处由于触摸引起的电容变化；

其中所述一个或多个电荷放大器能够基于每个像素而被配置，以解决在所述触摸传感器面板处的差异。

12.如权利要求11所述的触摸传感器面板，每个电荷放大器包括能够被配置为使电荷放大器的动态范围最大的反馈电容器。

13.如权利要求12所述的触摸传感器面板，所述反馈电容器被配置为基于每个像素提供不同的值。

14.如权利要求13所述的触摸传感器面板，还包括被配置为设置所述反馈电容器的值的寄存器。

15.如权利要求14所述的触摸传感器面板，所述寄存器包括值的查找表，所述查找表被配置成为每个触摸像素提供反馈电容器的值。

16.如权利要求11所述的触摸传感器面板，每个电荷放大器包括可编程为执行增益补偿的反馈电阻器。

17.一种用于补偿具有多个触摸像素的触摸传感器面板的方法，包括：

将一个或多个电荷放大器耦接到所述触摸传感器面板中的所述多个触摸像素，以检测在每个触摸像素处由于触摸引起的电容变化；以及

基于每个像素配置所述一个或多个电荷放大器，以补偿在所述触摸传感器面板处的差异。

18.如权利要求17所述的方法，还包括配置每个电荷放大器中的反馈电容器以使该电荷放大器的动态范围最大。

19.如权利要求17所述的方法，还包括使用值的查找表，所述查找表被配置成为每个触摸像素提供反馈电容器的值。

20.如权利要求17所述的方法，还包括对每个电荷放大器中的反馈电阻器进行编程以执行增益补偿。

21.一种包括触摸传感器面板的计算设备，所述触摸传感器面板包括：

多个触摸像素；以及

耦接到所述多个触摸像素的一个或多个电荷放大器，用于检测在所述多个触摸像素中的每个触摸像素处由于触摸引起的电容变化；

其中所述一个或多个电荷放大器能够基于每个像素而被配置，以解决在所述触摸传感器面板处的差异。