[发明专利]一种新型的OTP实现方法

说明书

技术领域

本发明涉及IC设计领域，尤其是一种新型的OTP实现方法。

背景技术

用户在开发产品的时候，经常需要自身开发的产品都能便于管理，这样一般要求产品内的芯片都有唯一的序列号来方便管理自己的产品。同类产品之间成本压力逐渐增大，需要产品链上的各方都在不断的想办法降低成本，此点对应用到芯片设计上，就要求在尽可能不增加成本甚至降低成本的情况下，利用现有资源能够做更多的事情。一颗功能完好的芯片的成本包含很多环节，对应到设计阶段，需要尽量用较少的逻辑门来完成符合要求的功能(芯片的面积涉及到芯片的成本，单颗芯片的面积越大(逻辑门越多)，成本越大。芯片设计一般包括：设计方案和测试方案制定、详细功能设计、芯片生产、裸片测试、芯片封装、成片测试等流程。裸片测试是指芯片在没封装之前，需要对芯片的部分功能测试，测试的时候需要测试机的配合，测试机送出符合要求的时序，裸片才能执行相对应的动作)。

如图1所示，传统的片上系统(SOC，system on chip)一般包含CPU、存储器、指令缓存、数据缓存和各种接口电路等，一次性可编程(OTP，one time program)存储器是独立于其他存储器，所述OTP存储器只能够进行一次编程的存储器，一般都是把存储区域的内容1改变成0。OTP存储区域一般也分成2个主要区域：1、序列号区域：芯片生产的过程中写入，生产完成之后，用户不能更改；2、用户开放区域：这部分区域生产完成之后，所有区域的初始数据都是1，用户可以对这部分开放的区域执行写操作，一档写操作完成之后，用户不能更改。传统的SOC设计中实现OTP功能，需要在SOC中整合第三方提供的OTP IP。

由于OTP存储器是和其他存储器完全独立的，所以在芯片的整个完成阶段都需要增加额外的资源来满足芯片的功能要求。其技术的不足在于：1、芯片设计的时候需要整合第三方的OTP存储器，增加了芯片设计的复杂度；2、增加了第三方的OTP存储器，芯片设计的成本会有增加(OTP需要占用芯片的面积)，因为OTP存储器是独立的存储器，所以芯片测试的时候需要对OTP进行独立的测试，这样测试的成本也会有所增加。

发明内容

本发明要解决上述现有技术的缺点，提供一种新型的OTP实现方法，利用传统的非易失性存储器实和软硬件协调的方法实现OTP的功能。

本发明解决其技术问题采用的技术方案：这种新型的OTP实现方法，步骤如下：

(1)、在SOC系统中的存储器设置有非易失性存储器和易失性存储器，非易失性存储器中设置有OTP存储区，所述OTP存储区分成序列号存储区和用户开放区二个存储区；

(2)、在裸片测试的时候，芯片通过内嵌的逻辑控制对序列号存储区完成唯一序列号的烧写，使用户无法改变此存储区域的内容；

(3)、在对非易失性存储器进行操作的时候，首先判断要操作的区域是否是OTP存储区的地址区域，如果是非OTP存储区的地址区域则会按照正常操作存储器的操作步骤执行，如果访问的范围是OTP存储区的地址区域，则首先判断是否是序列号存储区的地址区域，如果是序列号存储区的地址区域，用户只能读不能够执行写操作，如果访问OTP的用户开放区的地址区域，硬件逻辑判断写完成操作的标志位是否被置位，置位则不能继续写，否则用户可以在满足写OTP用户开放区的条件下执行对该区域的写操作。

作为优选，OTP用户开放区中写完成操作的标志位的生成方法步骤是：在用户开放区预留出一个标志位，用户对此标志位只能进行写操作，不能执行擦除操作；用户一旦全部完成写操作命令，可对该标志位置位，芯片在每次上电之后会读出该标志位；如果该标志位被置位，则芯片内部会生成和标志位对应的写完成操作的标志位，芯片在对OTP用户开放区执行写操作的时候会首先判断标志位是否被置位，如果被置位，则不执行对OTP用户开放区的写操作。

作为优选，所述SOC系统还包括CPU、指令缓存、数据缓存以及接口电路。

作为优选，所述非易失性存储器为FLASH存储器。

作为优选，所述非易失性存储器为EEPROM存储器。

作为优选，所述的OTP存储区的地址范围小于非易失性存储器的地址范围。