[发明专利]一种控制离子均匀注入的二维扫描方法有效

专利信息
申请号: 201010514120.5 申请日: 2010-10-13
公开(公告)号: CN102446688A 公开(公告)日: 2012-05-09
发明(设计)人: 伍三忠;李慧;唐景庭;孙勇 申请(专利权)人: 北京中科信电子装备有限公司
主分类号: H01J37/317 分类号: H01J37/317;H01L21/265
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 101111 北京市中关村科*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 控制 离子 均匀 注入 二维 扫描 方法
【权利要求书】:

1.一种控制离子均匀注入的二维扫描方法,包括水平方向的静电扫描和垂直方向的机械扫描,所述的静电扫描控制离子束进行水平方向的均匀扫描,扫描电压波形(8)通过移动法拉第(3)检测离子束流在水平方向的分布并计算修正获得;所述的垂直方向的机械扫描,由运动控制器(2)控制直线电机(5)带动需注入的硅片进行穿越离子束的垂直方向的匀速扫描,并在运动的过程中向剂量控制器(1)发送扫描同步信号(7)。

2.如权利要求1所述的一种离子均匀注入的二维扫描控制方法,其特征在于,控制水平方向的静电扫描的扫描电压波形(8)是根据移动法拉第(3)对离子束流在水平方向的分布状态检测,再通过特定的修正算法,经过多次重复修正获得。

3.如权利要求1所述的一种离子均匀注入的二维扫描控制方法,其特征在于,运动控制器(2)在控制直线电机(5)进行垂直方向的机械扫描的同时,向剂量控制器(1)发送扫描同步信号(7)。

4.如权利要求1所述的一种离子均匀注入的二维扫描控制方法,其特征在于,由剂量控制器(1)控制的静电扫描和由运动控制器(2)控制的机械扫描之间通过扫描同步信号(7)进行协调配合。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京中科信电子装备有限公司,未经北京中科信电子装备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010514120.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top