[发明专利]分析位置的方法与装置

权利要求书

1.一种分析位置的方法，其特征在于包括：

取得一感测资讯；

依据一正门槛判断该感测资讯中是否存在大于正门槛的正值；

依据一负门槛判断该感测资讯中是否存在小于负门槛的负值；以及

当存在大于正门槛的正值与小于负门槛的负值时判断位于大于正门槛的正值与小于负门槛的负值间的零交会处。

2.如权利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于该零交会处为触碰的位置。

3.如权利要求2所述的分析位置的方法，其特征在于零交会处的数量为触碰的数量。

4.如权利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于该零交会处的判断是判断位于一第一对正值与负值间的零交会处，该第一对正值与负值是先正值再负值。

5.如权利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于该零交会处的判断包括不判断位于一第二对正值与负值间的零交会处，该第二对正值与负值是先负值再正值。

6.如权利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于该零交会处是位于一第一对正值与负值间，该第一对正值与负值是先负值再正值。

7.如权利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于该零交会处的判断包括不判断位于一第二对正值与负值间的零交会处，该第二对正值与负值是先正值再负值。

8.如权利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于该感测资讯是依据多个感测器的信号产生，并且该些感测器的每一个值是分别依据该些感测器中的一对感测器的信号产生。

9.如权利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于该感测资讯是依据多个信号值产生，并且该些信号值是依据多个感测器的信号产生。

10.如权利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于该感测资讯是依据多个双差值产生，并且每一个双差值是依据多个感测器的三个感测器的信号产生。

11.一种分析位置的装置，其特征在于包括一控制器或一主机，执行下列作业：

取得一感测资讯；

依据一正门槛判断该感测资讯中是否存在大于正门槛的正值；

依据一负门槛判断该感测资讯中是否存在小于负门槛的负值；以及

当存在大于正门槛的正值与小于负门槛的负值时判断位于大于正门槛的正值与小于负门槛的负值间的零交会处。

12.如权利要求11所述的分析位置的装置，其特征在于该零交会处为触碰的位置。

13.如权利要求12所述的分析位置的装置，其特征在于零交会处的数量为触碰的数量。

14.如权利要求11所述的分析位置的装置，其特征在于该零交会处的判断是判断位于一第一对正值与负值间的零交会处，该第一对正值与负值是先正值再负值。

15.如权利要求11所述的分析位置的装置，其特征在于该零交会处的判断包括不判断位于一第二对正值与负值间的零交会处，该第二对正值与负值是先负值再正值。

16.如权利要求11所述的分析位置的装置，其特征在于该零交会处是位于一第一对正值与负值间，该第一对正值与负值是先负值再正值。

17.如权利要求11所述的分析位置的装置，其特征在于该零交会处的判断包括不判断位于一第二对正值与负值间的零交会处，该第二对正值与负值是先正值再负值。

18.如权利要求11所述的分析位置的装置，其特征在于该感测资讯是依据多个感测器的信号产生，并且该些感测器的每一个值是分别依据该些感测器中的一对感测器的信号产生。

19.如权利要求11所述的分析位置的装置，其特征在于该感测资讯是依据多个信号值产生，并且该些信号值是依据多个感测器的信号产生。

20.如权利要求11所述的分析位置的装置，其特征在于该感测资讯是依据多个双差值产生，并且每一个双差值是依据多个感测器的三个感测器的信号产生。