[发明专利]分析位置的方法与装置

权利要求书

1.一种分析位置的方法，其特征在于包括：

取得一感测资讯；

依据一第一门坎限值在该感测资讯中决定至少一第一起始位置；以及

由每一个第一起始位置朝一第一方向的一第一范围进行一零交会处位置分析以分别判断出一零交会处的位置，其中每一个零交会处位于一正值与一负值间。

2.根据权利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于该第一范围是由该第一起始位置至该零交会处的前一值、该零交会处、或该零交会处的后一值。

3.根据权利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于该第一门坎限值决定至少一第一起始范围，每一个第一起始位置位于该第一起始范围内的唯一值或该第一起始范围内的最大值、最前面的值、或最后面的值。

4.根据权利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于位于该第一门坎限值为一正值或一负值，并且该第一方向为向前或向后。

5.根据权利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于该零交会处位置分析是依据该零交会处前与后的相邻值来分析出该零交会处的位置。

6.根据权利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于更包括：

依据每一个零交会处的位置分别决定相应于至少一外部对象之一的位置。

7.根据权利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于更包括：

依据一第二门坎限值在该感测资讯中决定至少一第二起始位置；以及

由每一个第二起始位置朝一第二方向的一第二范围进行该零交会处位置分析以分别判断出该零交会处的位置。

8.根据权利要求7所述的分析位置的方法，其特征在于该第二范围是由该第二起始位置至该零交会处的前一值、该零交会处、或该零交会处的后一值。

9.根据权利要求7所述的分析位置的方法，其特征在于该第二门坎限值决定至少一第二起始范围，每一个第二起始位置位于该第二起始范围内的唯一值或该第二起始范围内的最大值、最前面的值、或最后面的值。

10.根据权利要求7所述的分析位置的方法，其特征在于位于该第二门坎限值为一正值或一负值，并且该第二方向为向前或向后，其中该第一方向与该第二方向相反。

11.一种分析位置的装置，其特征在于包括一控制器或一主机，执行下列作业：

取得一感测资讯；

依据一第一门坎限值在该感测资讯中决定至少一第一起始位置；以及

由每一个第一起始位置朝一第一方向的一第一范围进行一零交会处位置分析以分别判断出一零交会处的位置，其中每一个零交会处位于一正值与一负值间。

12.根据权利要求11所述的分析位置的装置，其特征在于该第一范围是由该第一起始位置至该零交会处的前一值、该零交会处、或该零交会处的后一值。

13.根据权利要求11所述的分析位置的装置，其特征在于该第一门坎限值决定至少一第一起始范围，每一个第一起始位置位于该第一起始范围内的唯一值或该第一起始范围内的最大值、最前面的值、或最后面的值。

14.根据权利要求11所述的分析位置的装置，其特征在于位于该第一门坎限值为一正值或一负值，并且该第一方向为向前或向后。

15.根据权利要求11所述的分析位置的装置，其特征在于该零交会处位置分析是依据该零交会处前与后的相邻值来分析出该零交会处的位置。

16.根据权利要求11所述的分析位置的装置，其特征在于该控制器或该主机，更包括执行下列作业：

依据每一个零交会处的位置分别决定相应于至少一外部对象之一的位置。

17.根据权利要求11所述的分析位置的装置，其特征在于该控制器或该主机，更包括执行下列作业：

依据一第二门坎限值在该感测资讯中决定至少一第二起始位置；以及

由每一个第二起始位置朝一第二方向的一第二范围进行该零交会处位置分析以分别判断出该零交会处的位置。

18.根据权利要求17所述的分析位置的装置，其特征在于该第二范围是由该第二起始位置至该零交会处的前一值、该零交会处、或该零交会处的后一值。