[发明专利]光偏振态斯托克斯参量的测量方法及系统

权利要求书

1.一种光偏振态斯托克斯参量的测量方法，其特征在于：所述光偏振态斯托克斯参量的测量方法包括以下步骤：

1)获取扩展平行光束；

2)将步骤1)所得到的扩展平行光束在空间上分为互相分开的、完全相同的四束分光束；

3)对步骤2)所得到的四束分光束分别进行调制并测量其光强度；

4)根据测量的光强度计算描述光偏振态的斯托克斯参量。

2.一种光偏振态斯托克斯参量的测量系统，其特征在于：所述光偏振态斯托克斯参量的测量系统包括分光棱镜、滤光镜组以及探测器组；所述分光棱镜、滤光镜组以及探测器组依次设置于同一光轴上。

3.根据权利要求2所述的光偏振态斯托克斯参量的测量系统，其特征在于：所述分光棱镜是由四块三棱镜相互拼接组成或整块光学元件。

4.根据权利要求3所述的光偏振态斯托克斯参量的测量系统，其特征在于：所述分光棱镜是拼接时，所述分光棱镜是由四块完全相同的三棱镜依顺时针或逆时针的方向在一个平面上依次拼接而成。

5.根据权利要求3所述的光偏振态斯托克斯参量的测量系统，其特征在于：所述分光棱镜是整块光学元件时，所述分光棱镜整体包括第一实平面以及与第一实平面相对的第二虚平面，所述第二虚平面上设置有四个小平面，所述四个小平面沿分光棱镜透光轴对称分布并整体与第二虚平面呈倒棱锥形。

6.根据权利要求2或3或4或5所述的光偏振态斯托克斯参量的测量系统，其特征在于：所述滤光镜组包括第一滤光镜、第二滤光镜、第三滤光镜以及第四滤光镜；所述第一滤光镜、第二滤光镜、第三滤光镜以及第四滤光镜分别设置于经分光棱镜的分光后的四条光路上。

7.根据权利要求6所述的光偏振态斯托克斯参量的测量系统，其特征在于：所述探测器组包括第一探测器、第二探测器、第三探测器以及第四探测器；所述第一探测器与第一滤光镜设置于同一光路上；所述第二探测器与第二滤光镜设置于同一光路上；所述第三探测器与第三滤光镜设置于同一光路上；所述第四探测器与第四滤光镜设置于同一光路上。

8.根据权利要求7所述的光偏振态斯托克斯参量的测量系统，其特征在于：所述光偏振态斯托克斯参量的测量系统还包括扩束镜和准直镜；所述扩束镜、准直镜和分光棱镜、滤光镜组以及探测器组设置于同一光轴上。

9.根据权利要求8所述的光偏振态斯托克斯参量的测量系统，其特征在于：所述光偏振态斯托克斯参量的测量系统还包括第一选光部件、第二选光部件、第三选光部件以及第四选光部件；所述第一选光部件设置于分光棱镜和第一滤光镜之间；所述第二选光部件设置于分光棱镜和第二滤光镜之间；所述第三选光部件设置于分光棱镜和第三滤光镜之间；所述所述第四选光部件设置于分光棱镜和第四滤光镜之间。

10.根据权利要求9所述的光偏振态斯托克斯参量的测量系统，其特征在于：所述第一选光部件、第二选光部件、第三选光部件以及第四选光部件是由透镜和光阑组成。