[发明专利]盘检查装置及盘检查方法

说明书

技术领域

本发明涉及用于检查盘的盘检查装置及盘检查方法。

背景技术

一直以来，能够通过照射激光进行数据的记录重放的光盘等记录介质盘广为人知。在这种盘中，会因经年劣化等导致数据的记录品质劣化，并根据情况而存在难以重放数据、信息损失等情况。在用盘来记录保管各种信息的盘存档(Disc Archive)中，这样的因盘的劣化而引起的信息损失成为很大的问题。因此，在盘存档中，要求定期检查保管的大量的盘。此外，在进行盘的租借或销售的盘的租借店或二手销售店中，也要求在该光盘的租借、销售之前，检查该盘。

由于这样的问题，以往提出了很多用于检查盘的装置。这种检查装置大多具备与通常的盘重放装置同样的盘驱动，用该盘驱动来检查对盘进行重放时的重放品质、例如根据纠错个数(出错数)等来检查盘的品质。

专利文献1：JP特开2008-165846号公报

专利文献2：JP特开2005-251277号公报

在此，进行盘检查时，若进行了使盘在角速度一定的条件下旋转并进行数据重放的CAV重放，则尽管检查速度较快，但存在会因盘的半径位置而产生出错误判定数的偏差、检查结果的可靠性下降的问题。这是由于，在CAV重放时，根据重放的部位的半径位置的不同，线速度不同。

另一方面，在以线速度一定的CLV重放进行盘检查时，这样的出错误判定数偏差的问题很难产生。但是，在CLV重放时，与CAV重放相比重放需要花费时间，结果存在盘检查耗费时间的问题。

为了避免这种检查时间增加的问题，在专利文献1中公开了如下的2步测定方式：每隔数磁道进行缺陷检测，存储检测出缺陷的位置的半径位置，并在存储的半径位置处测定出错数或出错率。此外，在专利文献2中公开了如下技术：将盘中进行出错检查的多个部位的位置信息和阈值存储到非易失性存储器中，并根据非易失性存储器中存储的位置信息执行出错检查。

根据这些技术可以缩短检查时间。但是，在这样的现有技术中，由于仅对盘的记录区域中的一部分进行检查，因此存在检查结果的可靠性低的问题。

发明内容

因此，本发明的目的在于提供一种能够在保持检查结果的可靠性的同时高速地检查盘的盘检查装置及盘检查方法。

本发明的盘检查装置是用于检查盘的盘检查装置，其特征在于，包括：重放机构，对记录于上述盘中的数据进行重放，并取得重放信号；出错数测定机构，测定上述重放信号中包含的出错数；和控制机构，控制上述重放机构和出错数测定机构的驱动，上述控制机构执行以下步骤：粗检查步骤，驱动上述重放机构而使上述盘角速度一定地进行重放，并且驱动上述出错数测定机构测定出错数，并根据在分割区域内得到的出错数的大小关系，在各个分割区域中将至少包括分割区域内出错数最大的部位的、需要再检查的部位确定为再检查部位，所述分割区域是在径向上将记录区域分割成多个的区域；和精密检查步骤，驱动上述重放机构，以在上述粗检查步骤中角速度一定地进行重放时的线速度以下的速度且线速度一定地对至少一个再检查部位附近进行重放，并且驱动上述出错数测定机构测定出错数，根据该测定出的出错数，检查上述盘，上述分割区域为以下的范围，即，在角速度一定地进行重放时因线速度的差而产生的出错误判定数的偏差收敛于规定的容许范围内。

在优选的方式中，上述分割区域，在角速度一定地进行重放时，在该分割区域的最外周因线速度而产生的出错误判定数和在该分割区域的最内周因线速度而产生的出错误判定数之差，在规定的容许值以下。在其他优选方式中，在上述精密检查步骤中，以在上述粗检查步骤中角速度一定地进行重放时的最内周侧的再检查部位的线速度以下的速度且线速度一定地进行重放。在其他优选方式中，上述分割区域是如下形成的区域，即，在半径方向上对上述记录区域进行等分割，以使在上述粗检查步骤中角速度一定地进行重放时，各分割区域的最内周的线速度和最外周的线速度之差在所有的分割区域中相等。

在其他优选方式中，上述精密检查步骤，在直到测定到作为是否为不良盘的基准值而预先规定的第一阈值以上的出错数为止、或者直到完成了所有分割区域的出错数测定为止，依次改变检查对象的分割区域而反复进行以下步骤：测定步骤，对一个分割区域中的再检查部位附近进行重放，并测定出错数；和比较步骤，对包含上述第一阈值的一个以上的阈值和上述测定的出错数进行比较。此时优选，上述精密检查步骤从在粗检查步骤中在再检查部位测定到的出错数大的分割区域开始依次进行。此外还优选，在上述比较步骤中，还进行比第一阈值小的第二阈值和上述测定的出错数间的比较，在测定到小于上述第一阈值且为第二阈值以上的出错数时，向用户输出注意消息。