[发明专利]平均长度长短检测装置和方法、以及光相干接收机有效

专利信息
申请号: 201010297567.1 申请日: 2010-09-27
公开(公告)号: CN102420658A 公开(公告)日: 2012-04-18
发明(设计)人: 严伟振;陶振宁;李磊 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: H04B10/148 分类号: H04B10/148;H04B10/08
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;孙海龙
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 平均 长度 长短 检测 装置 方法 以及 相干 接收机
【权利要求书】:

1.一种平均长度长短检测装置,用于检测接收机中的偏振串扰消除装置所用的平均器的平均长度是长还是短,所述装置包括:

残余偏振串扰系数大小确定单元,其用于确定接收机残余偏振串扰系数的大小;以及

长短指标获取单元,其用于根据所确定的残余偏振串扰系数的大小确定所述平均器的平均长度是长还是短的指标。

2.根据权利要求1所述的装置,其中,

所述残余偏振串扰系数大小确定单元确定V支路的信号向H支路的信号的残余偏振串扰系数的大小或H支路的信号向V支路的信号的残余偏振串扰系数的大小,

所述长短指标获取单元采用以下两种结构之一确定所述指标:

结构1,所述长短指标获取单元包括:

延迟单元,将所述残余偏振串扰系数延迟一个或更多个符号;

取共轭单元,对延迟后的信号取共轭;

乘法单元,将所述残余偏振串扰系数与经过取共轭的信号进行相乘;

平均单元,对所述相乘结果取平均;

取实部单元,求取平均后的信号的实部,

结构2,所述长短指标获取单元包括:

取实部单元,求取所述残余偏振串扰系数的实部;

取虚部单元,求取所述残余偏振串扰系数的虚部;

第一延迟单元,将所述实部延迟一个或更多个符号;

第二延迟单元,将所述虚部延迟一个或更多个符号;

第一乘法单元,将经延迟的实部和未经延迟的实部相乘,获得实部相乘结果;

第二乘法单元,经所述第二延迟单元延迟的虚部和未经延迟的虚部相乘,获得虚部相乘结果;

加法单元,将虚部相乘结果和实部相乘结果相加;

平均单元,将所述相加结果进行平均。

3.根据权利要求1所述的装置,其中,所述残余偏振串扰系数大小确定单元确定V支路的信号向H支路的信号的残余偏振串扰系数的大小和H支路的信号向V支路的信号的残余偏振串扰系数的大小两者;

其中所述长短指标获取单元采用以下两种结构之一来根据V支路的信号对H支路的信号的残余偏振串扰系数的大小确定针对H支路的指标以及根据所述H支路的信号向V支路的信号的残余偏振串扰系数确定针对V支路的指标,或采用所述两种结构分别根据V支路的信号向H支路的信号的残余偏振串扰系数的大小确定针对H支路的指标以及根据所述H支路的信号向V支路的信号的残余偏振串扰系数确定针对V支路的指标:

结构1,所述长短指标获取单元包括:

延迟单元,将所述残余偏振串扰系数延迟一个或更多个符号;

取共轭单元,对延迟后的信号取共轭;

乘法单元,将所述残余偏振串扰系数与经过取共轭的信号进行相乘;

平均单元,对所述相乘结果取平均;

取实部单元,求取平均后的信号的实部,

结构2,所述长短指标获取单元包括:

取实部单元,求取所述残余偏振串扰系数的实部;

取虚部单元,求取所述残余偏振串扰系数的虚部;

第一延迟单元,将所述实部延迟一个或更多个符号;

第二延迟单元,将所述虚部延迟一个或更多个符号;

第一乘法单元,将经延迟的实部和未经延迟的实部相乘,获得实部相乘结果;

第二乘法单元,经所述第二延迟单元延迟的虚部和未经延迟的虚部相乘,获得虚部相乘结果;

加法单元,将虚部相乘结果和实部相乘结果相加;

平均单元,将所述相加结果进行平均。

4.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述装置还包括方向指示单元,所述方向指示单元获得所述指标的符号或获得指示所述指标所处的范围的信号。

5.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:

平均值获取单元,其用于获取所述针对V支路的指标和所述针对H支路的指标的平均值;

方向指示单元,所述方向指示单元获得所述平均值的符号或获得指示所述平均值所处的范围的信号。

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