[发明专利]测试数模及模数转换器的方法

权利要求书

1.一种测试转换器的方法，所述转换器用于在数字信号和模拟信号之间转换，所述数字信号和所述模拟信号中的一个是输入信号而其中另一个则是输出信号，所述转换器包括含有重复的粗电阻器元件的组的粗电压分配器以及含有重复的细电阻器元件的组的细电压分配器，与所述重复的电阻器元件的组中相应位置连接的分接头，以及用于使分别对应于所述数字信号的较显著位和较不显著位的所述粗电阻器元件的选择与所述细电阻器元件的选择耦接的数字分接头选择器，所述测试方法包括：

连续地提供与随同所述粗电阻器元件的每一个所述选择的所述细电阻器元件的第一选择对应的参考输入信号，测量所述转换器的对应输出信号，以及使用所述参考输入信号及所述输出信号来为随同所述粗电阻器元件的每一个所述选择的所述细电阻器元件的所述第一选择提供计算的微分非线性值及积分非线性值；

连续地提供与随同所述细电阻器元件的每一个所述选择的所述粗电阻器元件的第一选择对应的参考输入信号，测量所述转换器的对应输出信号，以及使用所述参考输入信号及所述模拟输出信号来为随同所述细电阻器元件的每一个所述选择的所述粗电阻器元件的所述第一选择提供计算的微分非线性值及积分非线性值；以及

使用所述计算的微分非线性值及所述计算的积分非线性值的组合来为所述粗电阻器元件与所述细电阻器元件的其它组合计算微分非线性值及积分非线性值。

2.根据权利要求1的测试转换器的方法，还包括连续地提供与随同所述粗电阻器元件的每一个所述选择的所述细电阻器元件的第二选择对应的参考输入信号，测量所述转换器的对应输出信号，以及使用与所述细电阻器元件的所述第一和第二选择对应的所述参考输入信号及所述输出信号来为所述粗电阻器元件与所述细电阻器元件的所述其它组合计算积分非线性值的校正。

3.根据权利要求1的测试转换器的方法，还包括连续地提供与随同所述细电阻器元件的每一个所述选择的所述粗电阻器元件的第二选择对应的参考输入信号，测量所述转换器的对应输出信号，以及使用与所述粗电阻器元件的所述第一和第二选择对应的所述参考输入信号及所述输出信号来为所述粗电阻器元件与所述细电阻器元件的所述其它组合计算积分非线性值的校正。

4.根据权利要求1的测试转换器的方法，其中所述转换器包含于集成电路中，所述集成电路还包括用于计算所述值的数据处理器。

5.根据权利要求1的测试转换器的方法，还包括为所述粗电阻器元件与所述细电阻器元件的所述组合计算增益误差。

6.根据权利要求1的测试转换器的方法，还包括计算满刻度误差和零偏移误差。

7.一种集成电路，包括用于数字信号与模拟信号之间的转换的转换器及BIST(“内置自测试”)模块，其中所述数字信号和所述模拟信号中的一个是输入信号而其中另一个是输出信号，所述转换器包括含有重复的粗电阻器元件的组的粗电压分配器以及含有重复的细电阻器元件的组的细电压分配器，与在重复的电阻器元件的所述组中的相应位置连接的分接头，以及用于使分别与所述数字信号较显著位及较不显著位对应的所述粗电阻器元件的选择与所述细电阻器元件的选择耦接的数字分接头选择器，所述BIST模块包括：

用于连续地提供与随同所述粗电阻器元件的每一个所述选择的所述细电阻器元件的第一选择对应的参考输入信号的测试输入元件，用于测量所述转换器的对应输出信号的测试输出元件，以及使用所述参考输入信号及所述输出信号来为随同所述粗电阻器元件的每一个所述选择的所述细电阻器元件的所述第一选择提供计算的微分非线性值及积分非线性值的计算元件；

其中所述测试输入元件连续地提供与随同所述细电阻器元件的每一个所述选择的所述粗电阻器元件的第一选择对应的参考输入信号，所述测试输出元件被设置为测量所述转换器的对应输出信号，以及所述计算元件被设置为使用所述参考输入信号及所述模拟输出信号来为随同所述细电阻器元件的每一个所述选择的所述粗电阻器元件的所述第一选择提供计算的微分非线性值及积分非线性值；以及

其中所述计算元件使用所述计算的微分非线性值及所述计算的积分非线性值的组合来计算所述粗电阻器元件与所述细电阻器元件的其它组合的微分非线性值及积分非线性值。