[发明专利]粒子分析仪

说明书

技术领域：

本发明涉及一种通过对粒子图像进行图像解析以获取粒子大小和形状的相关信息的粒子分析仪。

背景技术：

人们已经知道以前有一种粒子分析仪将粒子悬浊液流入鞘流池，拍摄在该鞘流池流动的粒子悬浊液中的粒子，解析所摄粒子图像，并显示解析结果(参照特开平8-136439号和特开平10-318904号)。特开平8-136439号上记述的粒子分析仪根据表示粒子特征的二个参数(等效圆直径和圆形度)显示二维散点图。特开平10-318904号上记述的粒子分析仪根据表示粒子特征的三个参数(等效圆直径、圆形度和纵横比)显示三维散点图。等效圆直径是关于粒度的参数，圆形度和纵横比是关于粒子形状的参数。

在粒子分析当中，通过比较关于粒度的三个以上参数往往能得到有用的信息。比如当比较关于粒度的二个参数判断二个粒子大小基本相同时，在此基础上再加上关于粒度的第三个参数，则有可能发现二个粒子的大小和形状有显著差别。因此，要更确切地进行粒子分析，最好能够就粒度比较三个以上参数。这一点在粒子形状的参数上也同样。

然而，特开平8-136439号和特开平10-318904号关于粒度或粒子形状都没有比较三个以上参数。

发明内容：

本发明的范围只由后附权利要求书所规定，在任何程度上都不受这一节发明内容的陈述所限。

本发明的粒子分析仪包括以下形态：

(1)一种粒子分析仪，包括：

流动池，能让含有作为拍摄目标的多个粒子的试样流过；

成像器件，用于拍摄通过所述流动池的所述试样中的粒子；

图像处理部件，根据所述成像器件拍摄的粒子图像获取关于粒度的第一参数的第一特征值、关于粒度的第二参数的第二特征值和关于粒度的第三参数的第三特征值；

控制部件，用于生成并输出同时显示所述第一至第三特征值的界面。

本形态涉及的粒子分析仪在同一界面上显示关于粒度的三个参数的特征值，因此，可以就所摄粒子获得有用的信息。

(2)上述(1)所述粒子分析仪，其中：

所述第一参数是等效圆直径，所述第二参数是长轴径，所述第三参数是短轴径。

以此结构，除容易掌握粒子的大小外，还容易掌握粒子外形。

(3)一种粒子分析仪，包括：

流动池，能让含有作为拍摄目标的多个粒子的试样流过；

成像器件，用于拍摄通过所述流动池的所述试样中的粒子；

图像处理部件，根据所述成像器件拍摄的粒子图像获取关于粒子形状的第一参数的第一特征值、关于粒子形状的第二参数的第二特征值和关于粒子形状的第三参数的第三特征值；

控制部件，用于生成并输出同时显示所述第一至第三特征值的界面。

本形态涉及的粒子分析仪在同一界面上显示关于粒子形状的三个参数的特征值，因此，可以就所摄粒子获得有用的信息。

(4)上述(3)所述粒子分析仪，其中：

所述第一参数是圆形度，所述第二参数是纵横比，所述第三参数是包络度。

(5)上述(1)到(4)其中任意一项所述粒子分析仪，其特征在于：

所述界面包含雷达图表、折线图、或直线图。

以此结构，更易于直观地掌握粒子的特征。

(6)上述(1)到(4)其中任意一项所述粒子分析仪，其中：

所述成像器件拍摄多个粒子，获得多个粒子图像，

所述图像处理部件根据所得的多个粒子图像获取所述第一至第三特征值。

以此结构，可以根据从多个粒子图像获得的特征值，以数据形式掌握试样的特征。

(7)上述(6)所述粒子分析仪，其中：

所述图像处理部件就所述多个粒子图像分别获取所述第一至第三参数的特征值，并分别求出获取的所述第一至第三参数的特征值的平均值，将其作为所述第一至第三特征值。

(8)上述(1)到(4)其中任意一项所述粒子分析仪，其中：

所述成像器件拍摄多个粒子，获得多个粒子图像，

所述图像处理部件根据所得各个粒子图像获取所述第一至第三特征值。

以此结构，可以比较各个粒子的特征值。

(9)上述(8)所述粒子分析仪，其中：

所述控制部件针对从显示有所述多个粒子的一览表中选择的所述粒子，输出所述界面。

以此结构，可以有比较性地显示操作者所指定的粒子的特征。

(10)上述(1)到(4)其中任意一项所述粒子分析仪，其中：

所述界面同时显示就第一试样获取的第一至第三特征值和就第二试样获取的第一至第三特征值。