[发明专利]带位置检测功能的投影型显示装置无效
申请号: | 201010294073.8 | 申请日: | 2010-09-26 |
公开(公告)号: | CN102033662A | 公开(公告)日: | 2011-04-27 |
发明(设计)人: | 高桥正辉;远藤甲午 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | G06F3/042 | 分类号: | G06F3/042 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 位置 检测 功能 投影 显示装置 | ||
1.一种带位置检测功能的投影型显示装置,所述带位置检测功能的投影型显示装置从图像投影装置投影图像,并光学检测位于投影有所述图像的面和所述图像投影装置之间的对象物体的位置,所述带位置检测功能的投影型显示装置的特征在于,包括:
位置检测用光源部,设置在所述图像投影装置上,用于向所述对象物体射出位置检测光;
光检测器,检测在检测区域中由所述对象物体所反射的所述位置检测光;以及
位置检测部,基于所述光检测器的受光结果,检测所述对象物体的位置,
其中,在被射出有所述位置检测光的区域中形成所述位置检测光的强度分布。
2.根据权利要求1所述的带位置检测功能的投影型显示装置,其特征在于,
所述位置检测光由红外光构成。
3.根据权利要求1或2所述的带位置检测功能的投影型显示装置,其特征在于,
在所述强度分布中,在被射出有所述位置检测光的区域中,所述位置检测光的强度从一侧朝向另一侧单调递减或单调递增。
4.根据权利要求3所述的带位置检测功能的投影型显示装置,其特征在于,
在所述强度分布中,在被射出有所述位置检测光的区域中,所述位置检测光的强度线性地变化。
5.根据权利要求1至4中的任一项所述的带位置检测功能的投影型显示装置,其特征在于,
所述位置检测用光源部从所述图像投影装置中用于投影所述图像的投影透镜所处的前面部射出所述位置检测光。
6.根据权利要求1至5中的任一项所述的带位置检测功能的投影型显示装置,其特征在于,
所述位置检测用光源部、所述光检测器及所述位置检测部均设置于所述图像投影装置。
7.根据权利要求6所述的带位置检测功能的投影型显示装置,其特征在于,
所述光检测器设置于所述图像投影装置的所述前面部。
8.根据权利要求1至7中的任一项所述的带位置检测功能的投影型显示装置,其特征在于,
在将与所述图像的投影方向交叉的两个方向设为X轴方向及Y轴方向时,
所述位置检测用光源部形成强度在X轴方向上发生变化的X坐标检测用强度分布和强度在Y轴方向上发生变化的Y坐标检测用强度分布作为所述位置检测光的强度分布。
9.根据权利要求8所述的带位置检测功能的投影型显示装置,其特征在于,
所述位置检测用光源部形成光量从X轴方向的一侧向另一侧而减少的X坐标检测用第一强度分布以及强度向所述X坐标检测用第一强度分布的反方向进行变化的X坐标检测用第二强度分布作为所述X坐标检测用强度分布,并形成光量从Y轴方向的一侧向另一侧而减少的Y坐标检测用第一强度分布以及强度向所述Y坐标检测用第一强度分布的反方向进行变化的Y坐标检测用第二强度分布作为所述Y坐标检测用强度分布。
10.根据权利要求1至9中的任一项所述的带位置检测功能的投影型显示装置,其特征在于,
所述位置检测用光源部具有射出所述位置检测光的多个发光元件,并调整多个所述发光元件的射出光量的平衡而形成所述位置检测光的强度分布。
11.根据权利要求10所述的带位置检测功能的投影型显示装置,其特征在于,
在将与所述图像的投影方向交叉的两个方向设为X轴方向及Y轴方向时,
所述发光元件在X轴方向及Y轴方向双方上均排列有多个。
12.根据权利要求10或11所述的带位置检测功能的投影型显示装置,其特征在于,
多个所述发光元件是彼此的波长峰值位于同一波段内的发光元件。
13.根据权利要求10或11所述的带位置检测功能的投影型显示装置,其特征在于,
所述位置检测用光源部在多个发光元件中包括射出波长峰值位于第一波段的第一红外光的第一发光元件以及射出波长峰值位于与所述第一波段不同的第二波段的第二红外光的第二发光元件,并且,
所述带位置检测功能的投影型显示装置设置有灵敏度峰值位于所述第一波段的第一光检测器以及灵敏度峰值位于所述第二波段的第二光检测器作为所述光检测器。
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