[发明专利]透射式不依赖参考光的太赫兹光谱分析方法无效
| 申请号： | 201010291976.0 | 申请日： | 2010-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN102004080A | 公开（公告）日： | 2011-04-06 |
| 发明（设计）人： | 张亮亮;钟华;邓朝;张存林 | 申请（专利权）人： | 首都师范大学 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人： | 孙皓晨 |
| 地址： | 100037*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 透射 不依赖 参考 赫兹 光谱分析 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种透射式不依赖参考光的太赫兹光谱分析方法，其特征在于，包括如下步骤
(1)对被测样品进行透射式光谱测量，得到被测样品的太赫兹时域波形；
(2)根据所述测得的太赫兹时域波形，得到被测样品在系统有效频率范围内的位相谱
(3)由所述得到的位相谱提取出被测样品在太赫兹波段的特征吸收谱。
2.如权利要求1所述的透射式不依赖参考光的太赫兹光谱分析方法，其特征在于，所述的被测样品为弱极性的有机化合物材料。
3.如权利要求1所述的透射式不依赖参考光的太赫兹光谱分析方法，其特征在于，步骤(2)中将所述测得的太赫兹时域波形进行傅立叶变换，得到被测样品在系统有效频率范围内的位相谱
4.如权利要求1所述的透射式不依赖参考光的太赫兹光谱分析方法，其特征在于，步骤(3)中由位相谱通过计算提取出被测样品在太赫兹波段的特征吸收谱。
5.如权利要求1所述的透射式不依赖参考光的太赫兹光谱分析方法，其特征在于，步骤(1)中对被测样品进行一维透射式光谱测量。
6.如权利要求1所述的透射式不依赖参考光的太赫兹光谱分析方法，其特征在于，步骤(1)中对被测样品进行二维透射式光谱测量。
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