[发明专利]一种化学机械抛光液有效
| 申请号: | 201010287359.3 | 申请日: | 2010-09-20 |
| 公开(公告)号: | CN102408834A | 公开(公告)日: | 2012-04-11 |
| 发明(设计)人: | 王晨;何华锋 | 申请(专利权)人: | 安集微电子(上海)有限公司 |
| 主分类号: | C09G1/02 | 分类号: | C09G1/02 |
| 代理公司: | 上海翰鸿律师事务所 31246 | 代理人: | 李佳铭 |
| 地址: | 201203 上海市浦东新区张江高*** | 国省代码: | 上海;31 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 化学 机械抛光 | ||
1.一种化学机械抛光液,包括:研磨颗粒,含卤素的氧化剂,唑类化合物和有机碱,所述的化学机械抛光液具有碱性的pH值。
2.根据权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于:所述的研磨颗粒选自于SiO2、Al2O3、ZrO2、CeO2、SiC、Fe2O3、TiO2和Si3N4中的一种或多种。
3.根据权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于:所述的研磨颗粒的质量百分含量为0.1~20%。
4.根据权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于:所述的含卤素的氧化剂为溴酸盐和/或碘酸盐。
5.根据权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于:所述的含卤素的氧化剂的质量百分含量为0.1~5%。
6.根据权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于:所述的唑类化合物为三氮唑。
7.根据权利要求6所述的化学机械抛光液,其特征在于:所述的三氮唑为1-H-1,2,4-三氮唑(TAZ)。
8.根据权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于:所述的唑类化合物的质量百分含量为0.1~5%。
9.根据权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于:所述的有机碱为有机胺和/或季铵碱。
10.根据权利要求9所述的化学机械抛光液,其特征在于:所述的季铵碱为四甲基氢氧化铵。
11.根据权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于:所述的化学机械抛光液的pH值为10~11。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安集微电子(上海)有限公司,未经安集微电子(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010287359.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





