[发明专利]X射线计算机断层摄影系统和方法有效

专利信息
申请号: 201010286360.4 申请日: 2010-09-19
公开(公告)号: CN102397080A 公开(公告)日: 2012-04-04
发明(设计)人: 田毅;陈马昊 申请(专利权)人: 上海西门子医疗器械有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201318 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 射线 计算机 断层 摄影 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种包括X射线管、准直器和探测器的X射线计算机断层摄影系统,用于对待检对象在扫描方向上的复数个圆形截面进行摄影,所述探测器包括复数个探测器通道,所述X射线管、准直器和探测器围绕待检对象同步旋转,其特征在于,所述准直器为一开口可调的准直器,所述系统还包括计算组件和调整组件,其中

所述计算组件,用于计算分别照射每一圆形截面所需准直器的开口宽度,并将所述开口宽度传送给所述调整组件;

所述调整组件,用于根据所述开口宽度来调整所述准直器的开口。

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述计算组件包括圆形截面计算模块和开口宽度计算模块,其中

所述圆形截面计算模块,用于分别计算每一圆形截面的直径在探测器上的投影值,并将所述直径的投影值传送给所述开口宽度计算模块;

所述开口宽度计算模块,用于根据所述直径的投影值,计算分别照射每一圆形截面所需准直器的开口宽度,并将所述开口宽度传送给所述调整组件。

3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述圆形截面计算模块包括通道数目计算单元和比较单元,其中

所述通道数目计算单元,用于根据待检对象的前后位定位像和侧位定位像,计算待检对象在扫描方向上的复数个横截面在两幅定位像上分别覆盖的探测器通道数目,并作为宽度投影值和厚度投影值传送给所述比较单元;

所述比较单元,用于比较所述横截面各自的宽度投影值和厚度投影值,取二者中的较大者作为所述圆形截面的直径的投影值,并将所述直径的投影值传送给所述开口宽度计算模块。

4.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,所述圆形截面计算模块进一步包括:

外包络生成单元,用于为待检对象的前后位定位像和侧位定位像分别生成一个关于扫描中心线对称的外包络,并将前后位定位像的外包络作为所述前后位定位像、侧位定位像的外包络作为所述侧位定位像传送给所述通道数目计算单元;

5.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述计算组件进一步包括:

修正模块,用于接收所述开口宽度计算模块的开口宽度,计算所述圆形截面的直径,并将所述直径与待检对象在该圆形截面的解剖学结构中的最大宽度进行比较,根据比较结果来修正所述开口宽度,并将修正的开口宽度传送给所述调整组件。

6.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述准直器包括复数个叶片,所述叶片的间距通过调整组件来调整。

7.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述准直器包括遮光板,所述遮光板通过调整组件来调整。

8.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述调整组件进一步用于根据所述准直器开口的开合速率和减少的额外曝光之间的关系来调整所述开口的开合速率。

9.一种X射线计算机断层摄影方法,所述方法对待检对象在扫描方向上的复数个圆形截面进行摄影,包括如下步骤:

计算分别照射每一圆形截面所需准直器的开口宽度;

根据所述开口宽度来调整所述准直器的开口。

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述计算开口宽度包括:

分别计算每一圆形截面的直径在探测器上的投影值;

根据所述直径的投影值来计算分别照射每一圆形截面所需准直器的开口宽度。

11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述计算直径的投影值包括:

根据待检对象的前后位定位像,分别计算待检对象在扫描方向上的复数个横截面所覆盖的探测器通道数目,得到复数个宽度投影值,根据待检对象的侧位定位像,分别计算所述横截面所覆盖的探测器通道数目,得到复数个厚度投影值;

比较所述横截面各自的宽度投影值和厚度投影值,取二者中的较大者作为所述圆形截面的直径的投影值。

12.根据权利要求11所述的方法,其特征在于,所述计算直径的投影值进一步包括:

为待检对象的前后位定位像和侧位定位像分别生成一个关于扫描中心线对称的外包络,将前后位定位像的外包络作为所述前后位定位像、侧位定位像的外包络作为所述侧位定位像。

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