[发明专利]一种聚合物薄膜的玻璃化转变温度的测定方法

权利要求书

1.一种聚合物薄膜的玻璃化转变温度的测定方法，包括如下步骤：

1)将荧光探针分子掺杂于所述聚合物薄膜中得到聚合物薄膜样品并进行加热；

2)将连续激光照射于所述样品上，得到所述荧光探针分子发射的荧光；

3)将所述荧光进行散焦成像得到所述荧光探针分子的连续的散焦图像；记录所述散焦图像随所述加热的温度的变化情况；所述散焦图像从开始变化到完全变化所对应的温度区间的中心温度即为所述聚合物薄膜的玻璃化转变温度。

2.根据权利要求1所述的测定方法，其特征在于：步骤2)中所述激光是由激光器产生的。

3.根据权利要求1或2所述的测定方法，其特征在于：步骤2)中所述激光经过光学系统照射于所述样品上；所述光学系统包括起偏装置、波片、反射镜、滤光片和光学显微镜的物镜。

4.根据权利要求1-3中任一所述的测定方法，其特征在于：步骤3)中所述荧光经过滤光片后进行散焦成像；所述荧光在电荷耦合器件上进行散焦成像。

5.根据权利要求4所述的测定方法，其特征在于：所述电荷耦合器件为照相机。

6.根据权利要求3或4所述的测定方法，其特征在于：所述滤光片的中心波长为所述激光器的波长。

7.根据权利要求1-6中任一所述的测定方法，其特征在于：所述聚合物薄膜的厚度小于100nm；所述聚合物薄膜的用量小于1μg。

8.根据权利要求1-7中任一所述的测定方法，其特征在于：所述荧光探针分子的掺杂量与所述聚合物薄膜的质量比值小于10^-6。

9.根据权利要求1-8中任一所述的测定方法，其特征在于：所述聚合物薄膜为聚乙酸乙烯酯薄膜。

10.根据权利要求1-9中任一所述的测定方法，其特征在于：所述荧光探针分子为Alexa532。