[发明专利]发光二极管漏电流测试方法及系统无效
| 申请号： | 201010285715.8 | 申请日： | 2010-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN102004181A | 公开（公告）日： | 2011-04-06 |
| 发明（设计）人： | 严伟;袁晨 | 申请（专利权）人： | 上海北京大学微电子研究院 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00;G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 发光二极管 漏电 测试 方法 系统 | ||
1.一种发光二极管漏电流测试系统，其特征在于，包括恒温装置、控制器及TLP测试装置；其中
所述控制器连接至恒温装置，用于设置恒温装置内的恒温温度；
所述TLP测试装置连接至恒温装置及控制器，用于测试需要放置在恒温装置内的发光二极管的漏电流，并将测试结果发送至控制器。
2.如权利要求1所述的漏电流测试系统，其特征在于，所述控制器包括温度调节模块，用于调节恒温装置内的温度值。
3.如权利要求2所述的漏电流测试系统，其特征在于，所述测试结果包括恒温装置处于不同恒温时的发光二极管漏电流测试结果。
4.如权利要求1所述的漏电流测试系统，其特征在于，所述测试结果包括不同测试电压下的发光二极管漏电流值。
5.如权利要求1所述的漏电流测试系统，其特征在于，所述恒温装置内设置有开关阵列底座，该底座具体包括：
开关阵列，设置有一对或多对发光二极管两极接口，用于接入待测试发光二极管。
整流模组，连接至开关阵列，用于通过开关阵列向待测试发光二极管施加测试信号并获取测试结果。
6.一种发光二极管漏电流测试方法，其特征在于，包括步骤：
通过控制线缆(2)调节恒温箱(3)内待测发光二极管的环境温度并保持恒温；
将待测发光二极管通过开关阵列底座(6)接入TLP测试系统(5)；
通过幅度连续可调的矩形短脉冲，实现对待测发光二极管漏电流的检测；
TLP测试系统将结果返回处理器(1)。
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