[发明专利]一种硒鼓芯片的批量检测装置与方法

权利要求书

1.一种硒鼓芯片的批量检测装置，该装置包括盒体、打印机连接模块、芯片适配器卡座、继电器阵列模块、主控制模块、芯片状态显示模块和按钮开关，其特征在于：

所述打印机连接模块、继电器阵列模块、主控制模块和芯片状态显示模块放置在盒体内部，芯片适配器卡座和按钮开关位于盒体表面；

打印机连接模块的一端连接激光打印机，另外两端分别连接到继电器阵列模块的一端和主控制模块的一端，继电器阵列模块的另外两端分别连接到主控制模块的一端和芯片适配器卡座，主控制模块的另外一端连接到芯片状态显示模块，按钮开关通过导线连接到主控制模块。

2.根据权利要求1所述的一种硒鼓芯片的批量检测装置，其特征在于：所述打印机连接模块包括光耦器件、继电器和接线端子，其中光耦器件与打印机的就绪状态信号线和错误状态信号线相连，继电器与打印机的复位开关相连。

3.根据权利要求1所述的一种硒鼓芯片的批量检测装置，其特征在于：所述芯片适配器卡座包括卡槽和压杆，在卡槽一侧设置有一个滑块，在卡槽内部设置有触针底座，触针底座上承载至少两个可压缩式触针，可压缩式触针下方有电气导线与继电器阵列模块相连。

4.根据权利要求1所述的一种硒鼓芯片的批量检测装置，其特征在于：

所述继电器阵列模块包括继电器阵列和接线端子；

所述主控制模块包括控制单元、可编程逻辑单元、存储单元、通讯单元和接线端子；

所述芯片状态显示模块包括LED阵列和接线端子。

5.一种硒鼓芯片的批量检测方法，其特征在于采用以下方法：

A、首先，开启激光打印机，用于激光打印机上电初始化、装置中主控制模块上电初始化；

B、其次，将多单元的硒鼓芯片固定在装置中的芯片适配器卡座上；

C、然后，按动按钮开关让激光打印机开始对该多单元的硒鼓芯片依次进行检测，待检测完该批次的硒鼓芯片后，装置中的芯片状态显示模块会显示该批次硒鼓芯片的检测状态；

D、接着，将该批次的硒鼓芯片从装置中芯片适配器卡座上取下，再放入下一批次的多单元硒鼓芯片，然后再重复步骤C；

E、最后，检验完所有待检测的硒鼓芯片后关闭激光打印机。