[发明专利]触控点检测方法

权利要求书

1.一种触控点检测方法，用于一电容式触控面板，该电容式触控面板具有(M×N)个感测电容、M个第一电极与N个第二电极，该(M×N)个感测电容耦接于该M个第一电极与该N个第二电极，该(M×N)个感测电容沿着一第一方向排列成M列感测电容，且沿着相异于该第一方向的一第二方向排列成N行感测电容，该触控点检测方法包括：

透过该N个第二电极扫描该N行感测电容，以得到对应于该(M×N)个感测电容的(M×N)个第一差异信号；

针对各列感测电容，相加对应于同列感测电容中的多个感测电容的第一差异信号，以产生对应于该M列感测电容的M个列负载信号；

透过该M个第一电极扫描该M列感测电容，以得到对应于该(M×N)个感测电容的(M×N)个第二差异信号；

针对各行感测电容，相加对应于同行感测电容中的多个感测电容的第二差异信号，以产生对应于该N行感测电容的N个行负载信号；以及

依据该M个列负载信号、该N个行负载信号、该(M×N)个第一差异信号、该(M×N)个第二差异信号与一触控阈值，产生一触控点检测结果；

其中M、N皆为正整数。

2.如权利要求1所述的触控点检测方法，其中透过该N个第二电极扫描该N行感测电容，以得到对应于该(M×N)个感测电容的该(M×N)个第一差异信号包括：

透过该N个第二电极扫描该N行感测电容，以从该M个第一电极接收(M×N)个第一感测信号；以及

根据该(M×N)个第一感测信号与一基准值，产生该(M×N)个第一差异信号。

3.如权利要求2所述的触控点检测方法，其中根据该(M×N)个第一感测信号与该基准值，产生该(M×N)个第一差异信号包括：

以下式计算该(M×N)个第一差异信号中的一第A个第一差异信号：

S_{DIFF1_A}＝abs(S_{SEN1_A}-BASE)；

其中abs表示取绝对值，S_{DIFF1_A}表示该第A个第一差异信号，S_{SEN1_A}表示该(M×N)个第一感测信号的一第A个第一感测信号，BASE表示该基准值。

4.如权利要求3所述的触控点检测方法，其中根据该(M×N)个第一感测信号与该基准值，产生该(M×N)个第一差异信号还包括：

当该第A个第一差异信号小于一噪声阈值时，重置该第A个第一差异信号为一预定值。

5.如权利要求2所述的触控点检测方法，其中透过该M个第一电极扫描该M列感测电容，以得到对应于该(M×N)个感测电容的该(M×N)个第二差异信号包括：

透过该M个第一电极扫描该M列感测电容，以从该N个第二电极接收(M×N)个第二感测信号；以及

根据该(M×N)个第二感测信号与该基准值，产生该(M×N)个第二差异信号。

6.如权利要求5所述的触控点检测方法，其中根据该(M×N)个第二感测信号与该基准值，产生该(M×N)个第二差异信号包括：

以下式计算该(M×N)个第二差异信号中的一第A个第二差异信号：

S_{DIFF2_A}＝abs(S_{SEN2_A}-BASE)；

其中abs表示取绝对值，S_{DIFF2_A}表示该(M×N)个第二差异信号中的该第A个第二差异信号，S_{SEN2_A}表示该(M×N)个第二感测信号的一第A个第二感测信号，BASE表示该基准值。

7.如权利要求6所述的触控点检测方法，其中根据该(M×N)个第二感测信号与该基准值，产生该(M×N)个第二差异信号还包括：

当该第A个第二差异信号小于一噪声阈值时，重置该第A个第二差异信号为一预定值。

8.如权利要求1所述的触控点检测方法，其中针对各列感测电容，相加对应于同列感测电容中的多个感测电容的第一差异信号，以产生对应于该M列感测电容的该M个列负载信号包括：

相加对应于该M列感测电容的一第I列感测电容中的多个感测电容的第一差异信号，以产生对应于该第I列感测电容的一第I个列负载信号；

其中I≤M。