[发明专利]一种电容式双测杆对接平整度检测仪有效
| 申请号： | 201010283930.4 | 申请日： | 2010-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN101975551A | 公开（公告）日： | 2011-02-16 |
| 发明（设计）人： | 张磊;姚群海;朱真才;马孝直;杨根喜;刘刚;王道强;李清民;李宾 | 申请（专利权）人： | 中天仕名(徐州)重型机械有限公司;中国矿业大学 |
| 主分类号： | G01B7/34 | 分类号： | G01B7/34 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 唐惠芬 |
| 地址： | 221006*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 电容 式双测杆 对接 平整 检测 | ||
1.一种电容式双测杆对接平整度检测仪，其特征在于：它包括壳体(3)、设在壳体(3)顶部的上盖(7)，壳体(3)内对称设有头部伸出壳体底板的左右两个测杆(9)，左右两个测杆(9)的头部分别设有测头(2)，壳体(3)内左右两个测杆(9)的外侧分别设有固定于壳体(3)内壁上的导轨(11)，左右两个测杆(9)的内侧对称设有两块构成接入电容信号处理器的电容极板(5)，两块电容极板(5)固定在绝缘块(10)中部，绝缘块(10)两侧分别固定在左右两个测杆(9)上，左右两个测杆(9)上分别设有沿导轨(11)移动的滑块(4)，滑块(4)的底部设有弹簧(12)，壳体(3)的上端部固定有穿套左右两个测杆(9)的定位板(15)，上盖(7)上设有与接线头(6)相连的采集、处理两个测杆相对位移信号的信号处理器(8)。
2.根据权利要求1所述的电容式双测杆对接平整度检测仪，其特征在于：所述的壳体(3)底部设有分别引导左右两个测杆(9)下部导向的下导向套(13)。
3.根据权利要求1所述的电容式双测杆对接平整度检测仪，其特征在于：所述的定位板(15)上设有分别引导左右两个测杆(9)上部导向的上导向套(14)。
4.根据权利要求1所述的电容式双测杆对接平整度检测仪，其特征在于：所述的信号处理器(8)包括电容信号处理芯片，电容信号处理芯片连接有电压比较器，电压比较器上装有红绿色发光二极管、动作信号输出端口。
5.根据权利要求1所述的电容式双测杆对接平整度检测仪，其特征在于：所述电容处理芯片的型号为CAV424，电压比较器的型号为LM393。
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