[发明专利]一种晶圆级封装VDRDL重新布局技术无效
| 申请号: | 201010281597.3 | 申请日: | 2010-09-15 |
| 公开(公告)号: | CN102403235A | 公开(公告)日: | 2012-04-04 |
| 发明(设计)人: | 涂嘉晋;李应煌 | 申请(专利权)人: | 涂嘉晋;李应煌 |
| 主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/60 |
| 代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人: | 龚燮英 |
| 地址: | 中国台湾台北县板桥市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 晶圆级 封装 vdrdl 重新 布局 技术 | ||
技术领域:
本发明涉及一种晶圆封装技术,尤其涉及一种晶圆级封装VDRDL重新布局技术。
背景技术:
终端产品的发展趋势和规格需求,始终是组件技术发展的驱动力。若分别以三大信息产品类别-信息、通讯和消费性产品的发展以及其对组件的主要需求来看,始终仍不脱离小型化、高速/高效能、低成本、高容量、同/异质性整合等几个构面区追求。在整个WLCSP或者是3D IC成本中,Bumping或者是RDL占总成本33%,是非常重要的一环。
晶圆级封装中,可将原始的晶圆上回路Pad以重新布局方式移动位置,或者是增加回路布线,以达到WLCSP(Wafer Level Chip Scale(Size)Package)的要求。目前做法有Sputter电镀制程和挤压涂布制程。
Sputter即是用传统电镀方式处理,因此在成本和污染程度肯定提高。
挤压涂布法虽然是一个用导电胶方便的做法,有下列问题无法克服:1.挤压过程中气孔和不连续面的产生;2.在PCBA过程中会有破碎和剥离Peeling的可能;3.纳米金属颗粒是绝缘的,只有在聚合下才会导电,因此导电胶金属粉末比例愈高,导电率愈高,相对固化碎裂的机会愈大。
发明内容:
本发明的目的是提供一种晶圆级封装VDRDL重新布局技术,它能克服不连续和气孔产生的问题,而金属粉末已被烧结成为连续固体,因此不会有破碎和剥离的可能。
为了解决背景技术所存在的问题,本发明是采用以下技术方案:它的工艺流程为:1)介电层镀膜;2)Die Pad保护并以光罩将回路形成;3)将金属液体倒入晶圆,并使其均匀分布,并形成纳米金属粉末沉积,液体飘在沉积物表面;4)真空下,液体升华为气体,并加温使纳米金属粉末融化并固化;5)磨除多余介电层,保护回路,并钝化处理;6)殖球。
本发明的优点是:它能克服不连续和气孔产生的问题,而金属粉末已被烧结成为连续固体,因此不会有破碎和剥离的可能。
具体实施方式:
本具体实施方式采用以下技术方案:它的工艺流程为:1)介电层镀膜;2)Die Pad保护并以光罩将回路形成;3)将金属液体倒入晶圆,并使其均匀分布,并形成纳米金属粉末沉积,液体飘在沉积物表面;4)真空下,液体升华为气体,并加温使纳米金属粉末融化并固化;5)磨除多余介电层,保护回路,并钝化处理;6)殖球。
本具体实施方式的优点是:它能克服不连续和气孔产生的问题,而金属粉末已被烧结成为连续固体,因此不会有破碎和剥离的可能。
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