[发明专利]显示装置和显示装置的亮度校正方法

说明书

相关申请的交叉参考

本申请包含与2009年9月18向日本专利局提交的日本优先权专利申请JP 2009-217182所公开的内容相关的主题，在此将该日本优先权专利申请的全部内容以引用的方式并入本文中。

技术领域

本发明涉及在显示面板中包括发光元件的显示装置。

背景技术

近年来，在显示图像的显示装置领域中，已经开发了用于商品化的显示装置，它们使用发光亮度根据流过的电流值而变化的电流驱动型光学元件，例如作为像素发光元件的有机电致发光(Electro Luminescence，EL)元件。不像液晶元件等那样，有机EL元件是自发光元件。因此，在使用有机EL元件的显示装置(有机EL显示装置)中，不需要光源(背光)，因此与需要光源的液晶显示装置相比，减小了显示装置的尺寸并提高了显示装置的亮度。特别是，在显示装置使用有源矩阵系统作为驱动系统的情况下，各像素连续发光，由此减少电力消耗。因此，期望有机EL显示装置成为下一代平板显示装置的主流。

在使用目前的EL元件时存在如下问题：与流过的电流值对应的元件劣化使亮度下降。因此，在使用有机EL元件作为显示装置的像素的情况下，像素可能具有不同的劣化状态。例如，在显示装置的具有高亮度的固定区域内，在长时间显示诸如时间或显示频道等信息的情况下，位于该区域内的像素加速劣化。结果，在包含显示装置的过早劣化像素的区域内显示高亮度的图片时，会仅在包含过早劣化像素的区域内发生显示的图片较暗的被称作老化(burn-in)的现象。老化是不可挽回的，因此一旦发生老化，则这种老化就是永久的。

已经提出了很多防止老化的技术。例如，如日本专利公开公报特开2002-351403号所述，公开了一种在布置在显示区域外部的伪像素(dummy pixel)发光时通过检测端子电压来预测伪像素的劣化度，然后根据预测的劣化度校正图片信号的方法。此外，例如，如日本专利公开公报特开2008-58446号和国际申请公开WO 2006/046196所述，公开了在各显示像素中布置光传感器，并利用从上述光传感器输出的感光信号校正图片信号的方法。

然而，在日本专利公开公报特开2002-351403号的技术中，没有根据显示区域中像素的发光信息对显示区域中像素的劣化度进行预测，因而不能正确地校正图片信号。因此，难以防止老化。此外，在日本专利公开公报特开2008-58446号和国际申请公开WO 2006/046196的技术中，在各像素内的光传感器之间光电转换效率变化。因此，例如，来自以相同亮度显示的两个像素的感光信号的大小互不相同。结果，难以正确地防止老化。

发明内容

本发明的目的是提供能够正确地防止老化的显示装置。

本发明实施例提供了一种显示装置，其包括：显示区域，它包括多个发光元件；非显示区域，它包括多个发光元件和感光元件；驱动单元，它通过显示区域信号线与所述显示区域中的各个所述发光元件相连接；感光驱动单元，它通过非显示区域信号线与所述非显示区域中的所述多个发光元件连接；以及感光处理单元，它接收从所述非显示区域中所述多个发光元件中的各个发光元件输出的信号，并将劣化信号输出给所述驱动单元。所述驱动单元根据所述劣化信号向所述显示区域中的所述多个发光元件提供信号。

在本发明的另一实施例中，所述驱动单元根据所述劣化信号为所述显示区域中所述多个发光元件校正信号。

在本发明的另一实施例中，所述感光处理单元基于如下方程测定所述劣化信号：

D_i＝D_s^n(Yi，Ys)

其中，D_i是所述非显示区域中所述多个发光元件中的一个发光元件的劣化率，D_s是参考发光元件的劣化率，n(Y_i，Y_s)是所述非显示区域中所述多个发光元件中的一个发光元件的亮度相对于由所述感光处理单元选择的所述参考发光元件的亮度的指数因子。

在本发明的另一实施例中，所述感光处理单元基于如下方程测定所述指数因子