[发明专利]用于循环调整器件的方法和电路

说明书

技术领域

本发明涉及一种形成在芯片上的用于使其符合规范的调整电路部件，特别地，涉及用于使其符合规范的共享调整值或者代码的网络。

背景技术

芯片的制备过程中，微小的工艺改变就会引起变化，随着时间的流逝和/或其它环境条件，这种变化造成芯片上的电路不能符合其规范。这样的变化可能包括，但是不限于，化学和成分差异、芯片的物理差异、光刻的差异、压力以及温度的差异等。这些差异中的每一种都可能是微小的，但是它们会以这样的方式累加而使电路超出规范。

用于恢复超出规范的芯片的一种方法是调整芯片上的部件。通常在有问题的芯片上测量一个参数，如电压、电流、电阻或者频率，并且，如果测量结果不符合规范，就对电路的部件中施加调整以使该参数符合其规范。调整通常通过金属连接对电阻的串联布置施加作用，或者对短路一些部件的熔丝施加作用。熔丝可以选择性地被断开来改变最终电阻。例如，一个VCO(电压控制振荡器)可具有一个RC(电阻/电容)延迟，其决定了VCO的频率。可调整电阻以使VCO符合其频率规范。

发明内容

本发明包括一个包含有并联路径的部件的网络。每一个路径包括通过一个或者多个熔丝使其长度的一部分物理短路的部件。该部件未被短路的部分的值可被测量并且与规范比较。如果超出规范，就通过选择性地断开熔丝来改变部件的值。

可通过代码来识别要被断开的特定的熔丝，称为TRIM CODE(调整代码)。代码可以是二进制代码，但是其它的代码也是可用的，如一对一的代码，其中每个代码比特标识一个熔丝，并且1可表示要被断开的熔丝。

相同的代码然后被用于并联路径中的部件，这样并联的部件的百分比改变与被首次调整的部件的百分比改变匹配。而且，相同的代码还可用于相同的芯片上其它可调整的网络。

作为例示，可测量一个不在网络中的部件的值，当与规范比较时，该部件的值表示可对其它部件网络中的熔丝应用的一个特定的调整代码，使它们符合其规范。

一个或者多个可编程的开关可串联设置在部件网络的每个并联路径中，其中关闭开关使被调整部件互相并联。

本发明可应用于电阻、FET、电容，事实上可以应用于由芯片上的物理长度所限定的任何的部件，其中通过可随后断开的熔丝把所述长度的一部分短路连接。

附图说明

本发明的描述结合下述附图来说明：

图1是本发明的一个示例的示意图；以及

图2是图1中的部件的详细示意图，以及

图3示出了多组可调整网络。

具体实施方式

本发明记载了一种开关并联路径的可调整部件网络，其中每一个并联路径含有部件(典型地为电阻)，所述部件的一部分通过熔丝被旁路连接。对于并联的路径中每一个可调整部件，被旁路的部分表示该部件值的相同的百分比。部件被测量并与规范比较，如果不符合规范，规定数量的熔丝就被断开，从而使该部件符合其规范。TRIM CODE用于标识要被断开的特定的熔丝，同样也用于标识保持未断开的熔丝。对并联路径中的部件采用相同的TRIM CODE。

图1是一个包含输入IN、输出OUT和三个并联路径(路径A，路径B和路径C)的RC(电阻电容)延迟电路的示意图。开关S0是可编程的，并且当连通时，路径B与路径A并联。同样开关S1使路径C并联于路径A。当S0和S1都连通时，路径A，B，和C都是并联的。如图所示，这些路径在各自路径的两端连接在一起，但是这些路径也可以只在一端连接，而另一端可与地或者其它节点连接。

虽然只有三个路径A，B，和C会在下文中进一步讨论，但是注意到可能存在额外的路径(具有额外的开关Sn的路径n)。

在路径A中，电阻R1包括一个部分ΔR1，如图2中所示，该部分通过熔丝破旁路。路径B中的R2，路径C中的R3也同样分别具有被旁路的部分ΔR2和ΔR3。

在图1的实施例中，在使用完好的熔丝将ΔR1短路的情况下从IN到OUT测量路径A中的电阻R1。在这个实例中，S0和S1是断开的，所测得的IN和OUT之间的电阻只是R1的未被旁路的部分2的电阻。测量可通过将一个随着时间变化的信号引入IN节点，并且在OUT处测量输出信号来实现。输出信号所造成的时间延迟波形可能会显示出R1，C1电路可能不符合规范。如果这样，就可以许可改变从IN到OUT的电阻R1。在图1中，电容C1可以被分开测量，这样就可以确定R1值的百分比改变，来使电路符合规范。

需要指出，电阻R1可通过一个欧姆计或者本领域技术人员熟知的其它方法来测量。