[发明专利]用于TD-LTE终端自动频率控制校准的方法和系统

权利要求书

1.一种用于TD-LTE终端自动频率控制校准的测量方法，其特征在于：校准设备包括PC机和综测仪，综测仪包括主控机和射频数字接收模块，PC机通过GPIB接口与综测仪主控机连接，PC机通过串口与被测终端连接，被测终端通过射频线与综测仪射频数字接收模块连接，按如下步骤校准：

(1)PC机通过主控机配置射频数字接收模块触发采集方式为绝对电平触发；

(2)PC机通过串口设置终端数模转换器DAC，从最小值开始以1bit间隔步进设置DAC值，被测终端通过DAC值产生电压，继而通过压控振荡器输出各设置的DAC电压控制值对应的频率；

(3)PC机控制终端按步骤(2)中的DAC电压控制值对应控制的发射频率在连续无线帧中的不同子帧上进行发送；

(4)射频数字接收模块接收终端发送的射频信号，处理后成为数字基带信号，送入主控机；

(5)主控机计算不同子帧上信号的频率值，并与TD-LTE标准要求的稳定发射频率相比计算频差；

(6)PC机通过GPIB接口主动接收综测仪计算的所有频差，检验最小频差，并记录此频差对应的DAC值，同时根据最大DAC值和最小DAC值对应的频差拟合出一条斜线，计算出此斜线的斜率，所述最小频差对应的的DAC值和斜率即为校准的AFC参数；

(7)PC机通过串口将所述的AFC参数写入被测终端。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征是：在执行上述步骤3时，当TD-LTE终端在同时最多支持5个子帧0，2，4，6，8发送上行信号时，每个无线帧中的子帧1，3，5，7，9作为切频的延时时间，保证切频的稳定，此时在每个无线帧中的子帧0，2，4，6，8上使用校准频率发送，用子帧1，3，5，7，9作为切频的稳定时间。

3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征是：在执行上述步骤3时，当被测终端性能同时支持10个子帧发送上行信号时，在每个子帧前的160个循环前缀的时间内，能够让被测终端切换到下一个子帧的频率，并使切频稳定，则AFC校准同时支持10个不同的频点发送上行信号，这时，使用子帧0-9发射校准频率来进行自动频率控制校准。

4.一种用于权利要求1～3之一所述方法的TD-LTE终端自动频率控制校准的测试系统，包括PC机部分、终端频率值接收和计算部分、检验部分，其特征在于，终端频率值接收和计算部分采用综测仪，综测仪包括主控机和射频数字接收模块，PC机通过GPIB接口与综测仪主控机连接，PC机通过串口与被测终端连接，被测终端通过射频线与综测仪射频数字接收模块连接；

射频数字接收模块接收被测终端发来的射频信号，实现下变频、中频信号数字化和数字正交解调功能，处理成为数字基带信号，送入主控机；

主控机通过PXI接口与射频数字接收模块连接，同时对其进行触发采集方式的配置，主控机根据采集到的信号数据计算出相应频率值，并与TD-LTE标准要求的稳定发射频率相比计算频差，然后通过GPIB接口反馈给PC机；

PC机向被测终端和综测仪下发控制命令，并进行校准线拟合，同时能够将校准参数写入终端的EEPROM中。

5.根据权利要求4所述的TD-LTE终端自动频率控制校准的测试系统，其特征在于：PC机包含配置模块、采集模块和计算校验模块；

所述的配置模块通过终端厂商提供的被测终端参数接口并通过串口对被测终端进行DAC值的配置，并在校准结束后写入AFC参数，同时能够通过GPIB总线远程控制综测仪主控机，通过综测仪主控机实现对综测仪射频数字接收模块的配置；

所述的采集模块通过GPIB总线从主控机中接收频差数据；

所述的计算校验模块根据最大DAC值和最小DAC值对应的频差拟合出一条斜线，计算出此斜线的斜率，同时检验最小频差，并记录此频差对应的DAC值。

6.根据权利要求4或5所述的TD-LTE终端自动频率控制校准的测试系统，其特征在于：所述的主控机包括驱动层、采集层和算法层；

所述的驱动层通过PC机发送的远程控制命令实现对射频数字接收模块的启动和初始化；所述的采集层能够配置射频数字接收模块的触发方式，并依此采集相关数据；所述的算法层完成不同子帧上频率值的计算，并与TD-LTE标准要求的稳定发射频率相比计算频差。