[发明专利]具主副步骤高压多点测试设备及方法

说明书

技术领域

本发明关于一种检测设备，特别是指一种将多颗待测物以群组模式并接测试的具主副步骤高压多点测试设备及方法。

背景技术

一般零件测试，如马达、风扇或变压器等，其品质检验必须使用耐压机，进行高压量测，以确认该待测物是否符合安全规格的耐电压条件。

因此，为确保每个零件皆为良品，在每个零组件出厂前，皆要进行高压测试程序，若以变压器为例，该变压器至少必须测试初级对铁心、铁心对次级及初级对次级等三次测试程序，若每次必须测试1秒，每个变压器在测试上必须花上3秒钟才能进行第2个变压器的测试，造成测试时间冗长，浪费人力与时间，不符合经济效益。

因此，为改善上述缺失，即有群组并联测试设备问市，可同时测试多组变压器，以达到节省测试时间及人力的目的；然而，同时测试多组待测物，虽然可缩短测试时间及人力，但测试群组中有不良品时，现阶段是将群组内全部的待测物暂时判定不良，再通过冗长的测试程序做第二次测试，而如此的测试方式，容易因人员操作失误，造成混料，且无法做数据统计分析。

另外，在实际进行高压测试时，如果与待测物的接触点接触不良时，往往会发生弧光，长期下来会影响接触点的寿命；又因为不良的接触，可能高电压并没有确实地传送到待测物，而发生耐电压不良品被误判为良品的情形。对高压产生设备而言，上述弧光的产生会对设备本身，甚至对其它附属的测试设备造成干扰，相对地影响设备的可靠度以及稳定性，进而影响的测试结果的可靠性。

由此可见，上述习用测试设备及测试方法具有极大的缺失有待改进。

发明内容

本发明的第一目的即在于提供一种具主副步骤高压多点测试设备及方法，以主、副测试步骤分离模式测试待测物，以达到减少测试时间，提高测试速度的目的。

本发明的第二目的在于提供一种具主副步骤高压多点测试设备及方法，当主步骤测试程序判定测试待测物群组发生不良时，即会自动进入副步骤测试程序，针对个别待测物进行测试，找出真正不良品。

本发明的第三目的在于提供一种具主副步骤高压多点测试设备及方法，将真正的不良待测物位置显示在面板上，让操作人员极易将不良品剔除。

本发明的第四目的在于提供一种具主高压多点测试设备及方法，将真正的不良待测物位置讯号输出于背板接点上，藉由自动设备将不良品剔除。

本发明的第五目的在于提供一种具主高压多点测试设备及方法，提供高压测试前先进行与待测物间的接触检查，以避免测试失误。

可达成上述发明目的的具主副步骤高压多点测试设备，包括：一高/低压切换装置，其包含数个高压开关及数个低压开关，该高/低压切换装置的电压输出模式为高压开关与低压开关启闭的切换；一测试通道组，其包含多个测试通道，每一个测试通道皆搭配高/低压切换装置的一个高压开关及一个低压开关，使单一测试通道用以变换电压输出模式；一高压产生装置，其具有一高压端及一低压端，该高压端与高/低压切换装置的全部高压开关连接；一电流侦测装置，其与连接于高压产生装置的该低压端与高低压切换装置间，用以侦测电流值；以及一中央控制单元，用以储存主步骤测试程序及副步骤测试程序，该主步骤测试程序及副步骤测试程序的测试参数包含测试电压、测试时间，该中央控制单元会驱使高压产生装置产生高压输出及控制高/低压切换装置的电压输出模式，使输出通道组用以输出多组高电压及多组低电压信号，以同时对多个待测物进行侦测，并会接收电流侦测装置传送的电流信号。

可达成上述发明目的的具主副步骤高压多点测试方法，包括：

(1)通过一用以储存主步骤测试程序及副步骤测试程序的中央控制单元，驱使一高压产生装置产生高压输出及控制一高/低压切换装置的电压输出模式；

(2)该输出通道组输出多组高电压及多组低电压信号，以同时对多个待测物进行侦测，并接收一电流侦测装置传送的电流信号；

(3)进行主步骤测试程序，通过中央控制单元驱使高压产生装置经由高压端输出高电压，经输出通道组传送至待测物，经由电流侦测装置侦测电流信号，并将电流信号传送至中央控制单元中判读，以判断全部待测物状态，若该测试群组中的待物测有任一不良品时，则进入副步骤测试程序；以及

(4)进入副步骤测试程序，进行个别待测物的高压测试，经由中央控制单元驱使高压产生装置经高压端输出高电压顺序至各待测物，并由各待测物输出低电压回高压产生装置，该中央控制单元经由电流侦测装置撷取的电流值，分别判断各待测物状态，并将测试结果传送至显示装置显示。重复步骤(4)，进行次一待测物的高压测试，直至全部待测物皆个别测试完成，以找出不良品的待测物。