[发明专利]瞬时电流的测试系统与方法无效

专利信息
申请号: 201010269755.3 申请日: 2010-08-31
公开(公告)号: CN101957402A 公开(公告)日: 2011-01-26
发明(设计)人: 祁建华;刘远华;岳小兵;徐惠;牛勇;张志勇;叶守银;汤雪飞;季海英;顾春华;方华 申请(专利权)人: 上海华岭集成电路技术股份有限公司
主分类号: G01R19/25 分类号: G01R19/25
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 201203 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 瞬时 电流 测试 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种瞬时电流的测试方法,利用参数测量单元进行测试,其中所述参数测量单元包括施加端和检测端,且施加端耦接一激励源,检测端为高阻态,其特征是,所述瞬时电流的测试方法包括:预设参数测量单元的电压上限和下限;

在所述参数测量单元的施加端串联一电阻,以通过该电阻引出测试信号;

将所述测试信号引入测试通道;

当所述测试信号位于所述上限和下限之间时,测试结果为合格,否则,为不合格。

2.根据权利要求1所述的瞬时电流的测试方法,其特征是,所述参数测量单元的电压上限和下限的预设如下:

电压上限:施加电压+R*上限电流

电压下限:施加电压+R*下限电流

其中施加电压为施加端所耦接的电压,R为所述施加端串联电阻的电阻值,所述上限电流为3mA,所述下限电流为1mA。

3.根据权利要求1所述的瞬时电流的测试方法,其特征是,该方法用于存储器瞬间写入或掉电保护的瞬时电流测试。

4.一种瞬时电流测试系统,其特征是,包括

参数测量单元,其内存储有参数测量单元的电压上限和下限,该参数测量单元包括施加端和检测端,施加端耦接一激励源,检测端为高阻态;

测量电阻,串联于所述施加端,以通过该测量电阻引出一测试信号;且,

当所述测试信号位于所述上限和下限之间时,测试结果为合格,否则,为不合格。

5.根据权利要求4所述的瞬时电流测试系统,其特征是,所述参数测量单元的电压上限和下限如下:

电压上限:施加电压+R*上限电流

电压下限:施加电压+R*下限电流

其中施加电压为施加端所耦接的电压,R为所述施加端串联电阻的电阻值,

所述上限电流为3mA,所述下限电流为1mA。

6.根据权利要求4所述的瞬时电流测试系统,其特征是,该系统用于存储器瞬间写入或掉电保护的瞬时电流测试。

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