[发明专利]瞬时电流的测试系统与方法无效
| 申请号: | 201010269755.3 | 申请日: | 2010-08-31 |
| 公开(公告)号: | CN101957402A | 公开(公告)日: | 2011-01-26 |
| 发明(设计)人: | 祁建华;刘远华;岳小兵;徐惠;牛勇;张志勇;叶守银;汤雪飞;季海英;顾春华;方华 | 申请(专利权)人: | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R19/25 | 分类号: | G01R19/25 |
| 代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
| 地址: | 201203 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 瞬时 电流 测试 系统 方法 | ||
1.一种瞬时电流的测试方法,利用参数测量单元进行测试,其中所述参数测量单元包括施加端和检测端,且施加端耦接一激励源,检测端为高阻态,其特征是,所述瞬时电流的测试方法包括:预设参数测量单元的电压上限和下限;
在所述参数测量单元的施加端串联一电阻,以通过该电阻引出测试信号;
将所述测试信号引入测试通道;
当所述测试信号位于所述上限和下限之间时,测试结果为合格,否则,为不合格。
2.根据权利要求1所述的瞬时电流的测试方法,其特征是,所述参数测量单元的电压上限和下限的预设如下:
电压上限:施加电压+R*上限电流
电压下限:施加电压+R*下限电流
其中施加电压为施加端所耦接的电压,R为所述施加端串联电阻的电阻值,所述上限电流为3mA,所述下限电流为1mA。
3.根据权利要求1所述的瞬时电流的测试方法,其特征是,该方法用于存储器瞬间写入或掉电保护的瞬时电流测试。
4.一种瞬时电流测试系统,其特征是,包括
参数测量单元,其内存储有参数测量单元的电压上限和下限,该参数测量单元包括施加端和检测端,施加端耦接一激励源,检测端为高阻态;
测量电阻,串联于所述施加端,以通过该测量电阻引出一测试信号;且,
当所述测试信号位于所述上限和下限之间时,测试结果为合格,否则,为不合格。
5.根据权利要求4所述的瞬时电流测试系统,其特征是,所述参数测量单元的电压上限和下限如下:
电压上限:施加电压+R*上限电流
电压下限:施加电压+R*下限电流
其中施加电压为施加端所耦接的电压,R为所述施加端串联电阻的电阻值,
所述上限电流为3mA,所述下限电流为1mA。
6.根据权利要求4所述的瞬时电流测试系统,其特征是,该系统用于存储器瞬间写入或掉电保护的瞬时电流测试。
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