[发明专利]半导体被处理基板的真空处理系统及半导体被处理基板的真空处理方法有效

专利信息
申请号: 201010268843.1 申请日: 2010-08-27
公开(公告)号: CN102064123A 公开(公告)日: 2011-05-18
发明(设计)人: 田内勤;近藤英明;仲田辉男;野木庆太;下田笃;智田崇文 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 黄永杰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 半导体 处理 真空 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种半导体被处理基板的真空处理系统,其特征在于,具备:大气搬运室,其前面侧配置多个盒台,搬运设置于所述多个盒台内的一个上的盒内所收纳的晶片;锁定室,其配置于该大气搬运室的后方,在内部收纳从该大气搬运室搬运的所述晶片;第一真空搬运室,其与该锁定室的后方连结,从该锁定室搬运所述晶片;搬运中间室,其与所述第一真空搬运室的后方连结;第二真空搬运室,其与该搬运中间室的后方连结,从该搬运中间室搬运所述晶片;与所述第一真空搬运室的后方连结、处理从所述第一真空搬运室搬运的所述晶片的至少一个真空处理室;与所述第二真空搬运室的后方连结、处理从所述第二真空搬运室搬运的所述晶片的两个以上的真空处理室,

与所述第一真空搬运室连结的真空处理室的数量比与所述第二真空搬运室连结的真空处理室的数量少。

2.如权利要求1所述的半导体被处理基板的真空处理系统,其特征在于,

作为与所述第一真空搬运室连结且处理从所述第一真空搬运室搬运来的所述晶片的第一真空处理室、和与所述第二真空搬运室连结且处理从所述第二真空搬运室搬运来的所述晶片的第二及第三真空处理室,

将与所述第一真空搬运室连结的真空处理室的数量设为1个,将与所述第二真空搬运室连结的真空处理室的数量设为2个。

3.如权利要求1或2所述的半导体被处理基板的真空处理系统,其特征在于,

在所述第一及第二真空搬运室的各自内部配置搬运机器人,该搬运机器人包括具有多个臂的搬运机器人。

4.一种半导体被处理基板的真空处理方法,使用半导体处理基板的真空处理系统处理半导体被处理基板,所述半导体被处理基板的真空处理系统具备:大气搬运室,其前面侧配置多个盒台,搬运设置于所述多个盒台内的一个上的盒内所收纳的晶片;锁定室,其配置于该大气搬运室的后方,在内部收纳从该大气搬运室搬运的所述晶片;第一真空搬运室,其与该锁定室的后方连结,从该锁定室搬运所述晶片;搬运中间室,其与所述第一真空搬运室的后方连结;第二真空搬运室,其与该搬运中间室的后方连结,从该搬运中间室搬运所述晶片;与所述第一真空搬运室的后方连结、处理从所述第一真空搬运室搬运的所述晶片的多个真空处理室;与所述第二真空搬运室的后方连结、处理从所述第二真空搬运室搬运的所述晶片的多个真空处理室,其特征在于,以使用与所述第一真空搬运室连结的多个真空处理室内的一个真空处理室的方式控制所述晶片的搬运。

5.如权利要求4所述的半导体被处理基板的真空处理方法,其特征在于,

在所述第一及第二真空搬运室的各自内部配置有搬运机器人,该搬运机器人包括具有多个臂的搬运机器人,

以使用与所述第一真空搬运室连结的多个真空处理室内的一个真空处理室的方式控制所述搬运机器人进行的所述晶片的搬运。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立高新技术,未经株式会社日立高新技术许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010268843.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top