[发明专利]管脚测试辅助笔及其使用方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试辅助工具，尤其是关于一种管脚测试辅助笔及其使用方法。

背景技术

在集成电路(integrated circuit，IC)芯片的测试阶段，如果发现IC芯片存在故障，例如传输的信号不完整，设计人员通常需要将IC芯片的某些管脚(pin)撬起进行相应测试及分析，以找出导致所述故障的原因。

目前，还没有一种专业的辅助工具可以轻松地将管脚撬起，设计人员只能使用一些现有的工具，例如镊子，夹起管脚，由于用力程度不好控制，操作起来不方便，不仅费时且极容易导致将管脚折断。

发明内容

鉴于以上内容，本发明提出一种管脚测试辅助笔及其使用方法，可以轻松地将需要测试的管脚钩起，在测试完成后，又可以将管脚还原成钩起前的状态。

该管脚测试辅助笔包括笔杆及笔钩，所述笔杆为不锈钢或塑料材质制成，所述笔钩为不锈钢材质制成。

该管脚测试辅助笔的使用方法包括：(A)将管脚测试辅助笔的笔钩套在集成电路芯片待测试的管脚上；(B)利用加热工具对该管脚进行加热使得该管脚与集成电路芯片焊接点处的锡融化，以致该管脚松动；(C)利用管脚测试辅助笔的笔钩将该管脚钩起进行测试；及(D)测试结束后，利用管脚测试辅助笔的笔杆将钩起的管脚压下，使得该管脚恢复到钩起前的状态。

相较于现有技术，本发明所提供的管脚测试辅助笔，可以轻松地将需要测试的管脚钩起，在测试完成后，又可以将管脚还原成钩起前的状态。操作方便，成本较低，实用性强。

附图说明

图1是本发明管脚测试辅助笔较佳实施例的正视图。

图2是本发明管脚测试辅助笔的使用方法较佳实施例的示意图。

主要元件符号说明

  管脚测试辅助笔  1  笔杆  10  笔钩  20  集成电路芯片  30  管脚  301

具体实施方式

参阅图1所示，是本发明管脚测试辅助笔较佳实施例的正视图。该管脚测试辅助笔1包括笔杆10及笔钩20两部分。笔杆10可以为圆柱状、圆锥状或其它便于设计人员抓握的形状，尺寸也以适合设计人员抓握为宜。笔钩20可以设置不同直径，例如0.2毫米，0.6毫米，1毫米等，以制造成不同型号的管脚测试辅助笔1。笔杆10可以采用不锈钢或塑料材料制成。笔钩20可以采用不锈钢材料制成，不易氧化，使用寿命长。

参阅图2所示，是图1中管脚测试辅助笔的使用方法较佳实施例的示意图。当设计人员需要撬起集成电路(integrated circuit，IC)芯片30的一个管脚301进行测试时，可以根据管脚301的尺寸及管脚301与IC芯片30上其它管脚之间的距离，选择一种合适型号的管脚测试辅助笔1。将管脚测试辅助笔1的笔钩20套在管脚301上，并利用加热工具(例如电烙铁)对管脚301进行加热，使得管脚301与IC芯片30焊接点处的锡融化以致管脚301松动，然后轻轻用力利用笔钩20将管脚301钩起，再对钩起的管脚301进行测试。

例如，当设计人员测试发现IC芯片30上传输的某个信号(例如reset信号)不完整时，需要对相应的管脚(例如reset管脚)进行测试，排查是否因为相应的管脚自身原因(例如尺寸，长度)导致的信号不完整。

测试完成后，设计人员可以利用管脚测试辅助笔1的笔杆10将管脚301压下，使得管脚301恢复到钩起前的状态。