[发明专利]薄膜晶体管基板及其制造方法以及显示装置无效
申请号: | 201010261249.X | 申请日: | 2010-08-23 |
公开(公告)号: | CN102034832A | 公开(公告)日: | 2011-04-27 |
发明(设计)人: | 长尾护;小林宣裕;后藤裕史 | 申请(专利权)人: | 株式会社神户制钢所 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;G02F1/1362;G02F1/1368;H01L21/77 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 李贵亮 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 及其 制造 方法 以及 显示装置 | ||
1.一种薄膜晶体管基板,其特征在于,其在薄膜晶体管中具有透明导电膜和Al合金膜直接连接的结构,
在所述透明导电膜存在针孔的部位,在该部位的基底Al合金膜表面形成有厚度为3.5nm以上的氧化被膜。
2.如权利要求1所述的薄膜晶体管基板,其中,所述Al合金膜含有合计2.5原子%以下且不包括0原子%的选自Ni、Co、Ag及Cu中的1种以上的元素。
3.如权利要求2所述的薄膜晶体管基板,其中,所述Al合金膜含有合计2.0原子%以下且不包括0原子%的稀土元素。
4.如权利要求1~3中任一项所述的薄膜晶体管基板,其中,所述Al合金膜含有2.0原子%以下且不包括0原子%的Ge。
5.如权利要求1~4中任一项所述的薄膜晶体管基板,其适用于显示装置的压接部。
6.一种薄膜晶体管基板,其特征在于,其在薄膜晶体管中具有透明导电膜和Al膜隔着阻障金属层而连接的结构,
在所述透明导电膜存在针孔的部位,在该部位的基底Al膜表面形成有厚度为3.5nm以上的氧化被膜。
7.如权利要求6所述的薄膜晶体管基板,其中,所述Al膜含有合计2.0原子%以下且不包括0原子%的稀土元素。
8.如权利要求6或7所述的薄膜晶体管基板,其适用于显示装置的压接部。
9.如权利要求1~8中任一项所述的薄膜晶体管基板,其中,在60℃且相对湿度为90%的湿润环境下曝露500小时后的针孔腐蚀密度,在1000倍光学显微镜观察视野内为0.15个/100μm2以下。
10.一种显示装置,其具备权利要求1~9中任一项所述的薄膜晶体管基板。
11.一种薄膜晶体管基板的制造方法,其特征在于,当制造权利要求1~5、9中任一项所述的薄膜晶体管基板时,在形成透明导电膜和Al合金膜直接连接的结构后,在氧等离子体气氛下进行O2灰化处理。
12.一种薄膜晶体管基板的制造方法,其特征在于,当制造权利要求6~9中任一项所述的薄膜晶体管基板时,在形成透明导电膜和Al膜连接的结构后,在氧等离子体气氛下进行O2灰化处理。
13.如权利要求11或12所述的薄膜晶体管基板的制造方法,其中,O2灰化处理的处理时间为3分钟以上和/或处理功率为100W以上。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的