[发明专利]薄膜晶体管基板及其制造方法以及显示装置无效

专利信息
申请号: 201010261249.X 申请日: 2010-08-23
公开(公告)号: CN102034832A 公开(公告)日: 2011-04-27
发明(设计)人: 长尾护;小林宣裕;后藤裕史 申请(专利权)人: 株式会社神户制钢所
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;G02F1/1362;G02F1/1368;H01L21/77
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 李贵亮
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 薄膜晶体管 及其 制造 方法 以及 显示装置
【权利要求书】:

1.一种薄膜晶体管基板,其特征在于,其在薄膜晶体管中具有透明导电膜和Al合金膜直接连接的结构,

在所述透明导电膜存在针孔的部位,在该部位的基底Al合金膜表面形成有厚度为3.5nm以上的氧化被膜。

2.如权利要求1所述的薄膜晶体管基板,其中,所述Al合金膜含有合计2.5原子%以下且不包括0原子%的选自Ni、Co、Ag及Cu中的1种以上的元素。

3.如权利要求2所述的薄膜晶体管基板,其中,所述Al合金膜含有合计2.0原子%以下且不包括0原子%的稀土元素。

4.如权利要求1~3中任一项所述的薄膜晶体管基板,其中,所述Al合金膜含有2.0原子%以下且不包括0原子%的Ge。

5.如权利要求1~4中任一项所述的薄膜晶体管基板,其适用于显示装置的压接部。

6.一种薄膜晶体管基板,其特征在于,其在薄膜晶体管中具有透明导电膜和Al膜隔着阻障金属层而连接的结构,

在所述透明导电膜存在针孔的部位,在该部位的基底Al膜表面形成有厚度为3.5nm以上的氧化被膜。

7.如权利要求6所述的薄膜晶体管基板,其中,所述Al膜含有合计2.0原子%以下且不包括0原子%的稀土元素。

8.如权利要求6或7所述的薄膜晶体管基板,其适用于显示装置的压接部。

9.如权利要求1~8中任一项所述的薄膜晶体管基板,其中,在60℃且相对湿度为90%的湿润环境下曝露500小时后的针孔腐蚀密度,在1000倍光学显微镜观察视野内为0.15个/100μm2以下。

10.一种显示装置,其具备权利要求1~9中任一项所述的薄膜晶体管基板。

11.一种薄膜晶体管基板的制造方法,其特征在于,当制造权利要求1~5、9中任一项所述的薄膜晶体管基板时,在形成透明导电膜和Al合金膜直接连接的结构后,在氧等离子体气氛下进行O2灰化处理。

12.一种薄膜晶体管基板的制造方法,其特征在于,当制造权利要求6~9中任一项所述的薄膜晶体管基板时,在形成透明导电膜和Al膜连接的结构后,在氧等离子体气氛下进行O2灰化处理。

13.如权利要求11或12所述的薄膜晶体管基板的制造方法,其中,O2灰化处理的处理时间为3分钟以上和/或处理功率为100W以上。

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