[发明专利]PI线选取和采样方法和装置以及CT图像重建方法和装置

权利要求书

1.一种PI线选取和采样方法，其特征在于，包括步骤：

在螺旋轨道上选取在XY平面上投影互相平行且等间距分布的PI线；

在所述PI线上等距离选取采样点。

2.如权利要求1所述的PI线选取和采样方法，其特征在于，所述步骤在螺旋轨道上选取在XY平面上投影互相平行且等间距分布的PI线进一步包括：

选取与重建区域相切的PI线，其中，λ₁^E＝λ₁^B+2π-2cos^-1(r/R)，λ₁^B表示该PI线起始点的光源角度，λ₁^E表示该PI线终止点的光源角度，R表示射线源旋转半径，r表示重建区域在XY平面上投影的半径；

选取下一条PI线使其在X-Y平面的投影与前面所选PI线在X-Y平面的投影平行且相距一距离，直到这些PI线所形成的PI曲面在XY平面的投影覆盖重建区域在XY平面的投影且各相邻PI线间距离相等；

按照上述步骤选取下一PI曲面上的PI线直到这些PI曲面覆盖了需重建的物体高度，其中，是该PI曲面的第一条PI线起始点的光源角度，Δ_Z表示两个相邻PI曲面与Z轴交点的距离之差。

3.一种CT图像重建方法，其特征在于，包括步骤：

在螺旋轨道上选取在XY平面上投影相互平行且等间距分布的PI线；

在所述PI线上等距离选取采样点；

根据PI线所相关的投影数据重建所述采样点；

把上述重建结果采样成直角坐标系下的均匀像素。

4.如权利要求3所述的CT图像重建方法，其特征在于，所述步骤在螺旋轨道上选取在XY平面上投影互相平行且等间距分布的PI线进一步包括：

选取与重建区域相切的PI线，其中，λ₁^E＝λ₁^B+2π-2cos^-1(r/R)，λ₁^B表示PI线起始点的光源角度，λ₁^E表示PI线终止点的光源角度，R为射线源旋转半径，r表示重建区域在XY平面投影的半径；

选取下一条PI线使其在X-Y平面的投影与前面所选PI线在X-Y平面的投影平行且相距一距离，直到这些PI线所形成的PI曲面在XY平面的投影覆盖重建区域在XY平面的投影且各相邻PI线间距离相等；

按照上述步骤选取下一PI曲面上的PI线直到这些PI曲面覆盖了需重建的物体高度，其中，表示该PI曲面的第一条PI线起始点的光源角度，Δ_Z表示两个相邻PI曲面与Z轴交点的距离之差。

5.如权利要求3或者4所述的CT图像重建方法，其特征在于，所述步骤根据PI线所相关的投影数据重建所述采样点进一步包括：

对PI线所相关的投影数据进行微分加权反投影；

对加权反投影后的结果进行有限希尔伯特滤波。

6.一种PI线选取和采样装置，其特征在于，包括：

PI线选取单元，用于在螺旋轨道上选取在XY平面上投影互相平行且等间距分布的PI线；

采样点选取单元，用于在所述PI线上等距离选取采样点。