[发明专利]显示面板的阵列基板与显示面板的测试方法及显示方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种显示面板的阵列基板，以及显示面板的测试方法及显示方法，尤指一种可使用少量测试信号输入垫进行测试的显示面板及其测试方法及显示方法。

背景技术

显示面板，例如液晶显示面板主要是由阵列基板(array substrate)、彩色滤光片基板(CF substrate)、以及填充于两基板之间的液晶分子所组成，其中阵列基板上设有多个呈阵列状排列的次像素区，每个次像素区包含栅极线、数据线、共通线与薄膜晶体管等元件。随着液晶显示器的应用日渐普及，消费者对于液晶显示器的解析度与像素开口率的要求也不断向上提升，而为了满足高解析度与高像素开口率的规格，导线的线宽必须缩减，且导线的密度必须提高。在上述情况下，在制作薄膜晶体管基板上的栅极线、数据线或其它导线图案时，缺陷产生的机率也会随之增加。为了确保导线无缺陷存在而可正常传递信号，在阵列基板上的导线制作完成后会进行测试，若测试出阵列基板的导线无缺陷存在，则可进行后续液晶显示面板的组装，而若测试出阵列基板的导线有缺陷存在，且此缺陷可修补，则进行修补，而若此缺陷无法修补，则进行重工或报废阵列基板。

请参考图1。图1示出了公知显示面板的阵列基板的示意图。如图1所示，公知显示面板的阵列基板10包括一基板12、一像素阵列14、多个显示数据输入垫16、一测试阵列18，以及多个测试信号输入垫20。基板12包括一有源区(或称为显示区)12A与一周边区(或称为非显示区或驱动电路区)12P。像素阵列14位于基板12的有源区12A内，像素阵列14包括多条栅极线GL与多条数据线DL，且栅极线GL与数据线DL交叉而共同定义出多个次像素(或称为子像素)，例如红色次像素R、绿色次像素G与蓝色次像素B。显示数据输入垫16位于基板12的周边区12P，其中各显示数据输入垫16与一对应的数据线DL的一端电性连接，且显示数据输入垫16可接收由数据驱动芯片(图未示)所发出的数据信号，并传递给数据线DL以驱动像素阵列14。测试阵列18位于基板12的周边区12P，其中测试阵列18包括多条测试线181、多条控制线182、多个控制信号输入垫183与多个开关元件SW。各测试线181的一端与一对应的显示数据输入垫16电性连接，而每12条测试线181的另一端同时与一对应的测试信号输入垫20电性连接。各控制线182的一端与一控制信号输入垫183电性连接。此外，各开关元件SW分别与一对应的测试线181与一对应的控制线182电性连接。也就是说，各开关元件SW具有第一端(或称为栅极，未标示)、第二端(或称为源极，未标示)以及第三端(或称为漏极，未标示)，其中，各开关元件SW的第一端连接对应的控制线182、各开关元件SW的第二端连接对应的测试线181、以及各开关元件SW的第三端连接对应的显示数据输入垫16。

于进行测试时，测试机台(图未示)会经由控制信号输入垫183输入控制信号以依序控制测试阵列18的开关元件SW的开启，以及经由测试信号输入垫20输入测试信号，以测试像素阵列14的数据线DL是否可正常传递信号。然而，根据公知显示面板的阵列基板的测试架构，一条测试线181对应一条数据线DL，且单一测试信号输入垫20仅能对应12条数据线DL，因此必须布设大量的测试线181与测试信号输入垫20。举例而言，若像素阵列14的数据线DL的数目为1080条，则必须设置1080条测试线181以及90个测试信号输入垫20，如此一来会大幅地增加显示面板的阵列基板的制作成本与测试时间。

发明内容

本发明的目的之一在于提供一种显示面板的阵列基板及其测试方法及显示方法，以减少显示面板的阵列基板的制作成本与测试时间。