[发明专利]线型激光扫描测头空间坐标规校正系统无效
申请号: | 201010249234.1 | 申请日: | 2010-08-10 |
公开(公告)号: | CN102374845A | 公开(公告)日: | 2012-03-14 |
发明(设计)人: | 冯黎 | 申请(专利权)人: | 冯黎 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 102600 北京市大*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 线型 激光 扫描 空间 坐标 校正 系统 | ||
技术领域
本发明涉及线型激光扫描测头与三坐标测量仪组合应用测量时的空间坐标校正方法。
背景技术
现有技术中,线型激光扫描测头与三坐标测量仪组合应用测量时,空间坐标校正一般采用测量标准球完成校正。
现有技术存在的问题是:利用现有技术方案进行线型激光扫描测头空间坐标校正时,由于球校正算法对扫描测量数据要求比较苛刻,操作难度大,效率低。
发明内容
本发明为线型激光扫描测头与三坐标测量仪组合应用测量时的空间坐标校正提供一种线型激光扫描测头空间坐标规校正系统,能够解决线型激光扫描测头空间坐标校正操作难度大、效率低的问题。
为达到上述目的,本发明采用的技术方案是:一种线型激光扫描测头空间坐标规校正系统,包括线型激光扫描测头、与所述的线型激光扫描测头机械连接的三坐标测量仪、与所述的线型激光扫描测头、所述的三坐标测量仪电连接的计算机系统,它还包括校正规、校正算法、测量系统软件,所述的校正规用于测量校正面的几何形状由一组平行线组成的平面和一组梯形线组成的平面构成,所述的校正算法根据所述的线型激光扫描测头在所述的校正规平行线组成的平面上的扫描测量数据L0、在所述的校正规梯形线组成的平面上的扫描测量数据L1和L2、以及所述的三坐标测量仪从获取L1测量数据位置到获取L2测量数据位置时移动的坐标值Δ计算得到将线型激光扫描测头测量数据L转换为与三坐标测量仪坐标系M一致的空间坐标数据的数据转换矩阵R及平移变换量T。
由于上述技术方案的运用,本发明与现有技术相比它产生的有益效果是:进行线型激光扫描测头空间坐标校正操作时,只需简单移动三坐标测量仪使用线型激光扫描测头测量校正规获取测量数据组L0、L1和L2、以及三坐标测量仪从获取L1测量数据位置到获取L2测量数据位置时移动的坐标值Δ,校正算法即可计算得到将线型激光扫描测头测量数据L转换为与三坐标测量仪坐标系M一致的空间坐标数据的数据转换矩阵R及平移变换量T,克服了球校正算法对扫描测量数据要求比较苛刻,操作难度大,效率低的问题。
附图说明
附图1为本发明的原理框图:
其中:1、线型激光扫描测头;2、三坐标测量仪;3、计算机系统;4、校正规;5、校正算法;6、测量系统软件。
附图2为本发明测量校正规获取测量数据的位置示意图:
其中:11、校正规;12、校正规平行线平面测量数据L0位置;13、校正规梯形线平面测量数据L1位置;14、校正规梯形线平面测量数据L2位置。
具体实施方式
参见附图1、2:一种线型激光扫描测头空间坐标规校正系统,包括线型激光扫描测头、与所述的线型激光扫描测头机械连接的三坐标测量仪、与所述的线型激光扫描测头、所述的三坐标测量仪电连接的计算机系统,它还包括校正规、校正算法、测量系统软件,所述的校正规用于测量校正面的几何形状由一组平行线组成的平面和一组梯形线组成的平面构成,所述的校正算法根据所述的线型激光扫描测头在所述的校正规平行线组成的平面上的扫描测量数据L0、在所述的校正规梯形线组成的平面上的扫描测量数据L1和L2、以及所述的三坐标测量仪从获取L1测量数据位置到获取L2测量数据位置时移动的坐标值Δ计算得到将线型激光扫描测头测量数据L转换为与三坐标测量仪坐标系M一致的空间坐标数据的数据旋转矩阵R及平移变换量T。操作三坐标测量仪利用激光扫描测头进行测量时,转换公式:M=R*L+T,将激光扫描测头测量数据L转换为三坐标测量仪坐标系数据M。
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