[发明专利]检测装置、显示装置以及物体接近距离测量方法无效
| 申请号: | 201010248403.X | 申请日: | 2010-08-05 |
| 公开(公告)号: | CN101996004A | 公开(公告)日: | 2011-03-30 |
| 发明(设计)人: | 高间大辅;关健太;今井雅人 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
| 主分类号: | G06F3/042 | 分类号: | G06F3/042 |
| 代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 检测 装置 显示装置 以及 物体 接近 距离 测量方法 | ||
1.一种检测装置,包括:
光学传感器阵列,具有光接收各向异性;
检测驱动部,被构造为驱动所述光学传感器阵列、获取
被检测物体的图像,并且基于所述光接收各向异性而生成不同的多个检测图像;以及
高度检测部,被构造为接收输入至所述高度检测部的所述多个检测图像,并且基于在与所述被检测物体的阴影和反射中的一个相对应的图像部分中由于所述光接收各向异性的差异所产生的位移的大小,来检测从所述光学传感器阵列的传感器光接收表面到所述被检测物体的距离(高度),所述图像部分包括在输入的所述多个检测图像中。
2.根据权利要求1所述的检测装置,还包括:
光接收各向异性赋予部,被构造为在所述光学传感器阵列中的一组彼此相邻的多个光学传感器中赋予不同的光接收各向异性,所述光接收各向异性赋予部设置在所述光学传感器阵列的所述被检测物体接近的一侧上。
3.根据权利要求2所述的检测装置,其中,
所述光学传感器阵列通过二维配置多个光学传感器而形成,所述多个光学传感器在接收透过所述光接收各向异性赋予部的光时,通过产生从不同方向入射的光的接收量的波长依赖性而被赋予所述光接收各向异性,以及
所述检测驱动部基于时间分割利用彼此分别具有不同波长范围的多束光来照射所述被检测物体,与利用所述多束光的照射同步地,基于时间分割来控制由所述被检测物体反射和返回的反射光在透过所述光接收各向异性赋予部之后而被所述多个光学传感器接收时的每一光接收时间,从而利用不同波长范围中的光来执行多次图像获取,并且通过所述多次图像获取生成所述多个检测图像。
4.根据权利要求3所述的检测装置,其中,
所述光接收各向异性赋予部中的与一个所述光学传感器的光接收表面相对的部分具有遮光部和被构造为在所述遮光部的一个方向的两侧透过不同波长范围的一对波长选择滤光部,并且通过将波长选择性赋给从所述一个方向的一侧倾斜入射的光和从所述一个方向的另一侧倾斜入射的光,而将光接收各向异性赋给所述光学传感器。
5.根据权利要求2所述的检测装置,其中
所述光接收各向异性赋予部是具有用于各个光学传感器的图案的遮光滤光片,所述图案在所述被检测物体靠近的一侧上为彼此相邻的所述多个光学传感器的每个传感器光接收表面的部分或全部遮光,所述图案的配置和形状中的至少一个对于所述多个光学传感器是不相同的,
在所述光学传感器阵列中限定所述多个光学传感器配置,其中,所述光接收各向异性根据所述遮光滤光片的所述图案所施加的遮光程度的差异而不同,以及
所述检测驱动部驱动所述光学传感器阵列,并且从所述多个光学传感器配置中生成彼此不同的所述多个检测图像。
6.根据权利要求2所述的检测装置,还包括:
光照射部,其中,
所述光接收各向异性赋予部是设置在所述光学传感器阵列的光入射侧的透镜阵列,
通过对所述透镜阵列中的一个透镜配置所述多个光学传感器使得当所述光照射部施加具有不同方向成分的光时根据入射角而主要接收由所述被检测物体反射的反射光的光学传感器在所述组中不同,从而在所述光学传感器阵列中限定所述光接收各向异性不同的多个光学传感器配置,以及
所述检测驱动部驱动所述光学传感器阵列,并且从所述多个光学传感器配置中生成彼此不同的所述多个检测图像。
7.根据权利要求1所述的检测装置,其中
所述高度检测部识别所述多个检测图像中的每一个中对应于所述被检测物体的所述图像部分,确定所述多个检测图像的每个中的被识别的所述图像部分的光接收量的峰值位置,并且根据所述多个检测图像中的所述光接收量的所述峰值位置之间的差、通过运算来确定所述高度。
8.根据权利要求1所述的检测装置,其中
所述高度检测部根据与阈值的大小关系,将包括在所述多个检测图像的每个中的各传感器输出二进制化、从得到的二进制化信息中识别对应于所述被检测物体的图像部分,计算所述图像部分的各个重心位置,并且根据获得的重心位置的差通过运算来确定所述高度。
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