[发明专利]IEEE1394接口测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试装置，特别涉及一种用于测试电子产品上的IEEE1394接口的测试装置。

背景技术

目前，很多电子产品上都设有IEEE1394接口，其为一种串行接口标准，是由IEEE---Institute of Electrical and Electronics Engineers，即电气和电子工程师协会制定的，此标准为该协会第1394个标准文件，故称为IEEE1394。在电子产品研发阶段或出货前测试阶段，需要对电子产品上的IEEE1394接口进行测试，以验证是否符合IEEE1394规范的要求。

通常的测试方法是购买一款符合IEEE1394规范的IEEE1394设备(如IEEE1394硬盘)，再通过一测试卡将待测的电子设备的IEEE1394接口与该符合IEEE1394规范的IEEE1394设备的IEEE1394接口连接起来，然后在测试卡上引出IEEE1394信号线，做好接地回路，再利用测试仪器的探棒进行探测。但上述方式需要事先购买符合IEEE1394规范的IEEE1394设备，故测试成本会很高，另外，测试待测的电子设备的IEEE1394接口与该符合IEEE1394规范的IEEE1394设备之间需用较长的线缆连接，可能会有信号反射现象发生，从而导致测试不精确。

发明内容

鉴于上述内容，有必要提供一种精确度高且成本低廉的IEEE1394接口测试装置。

一种IEEE1394接口测试装置，包括一IEEE1394芯片、一IEEE1394插头、一IEEE1394插座、一切换开关模组、至少一测试头，所述IEEE1394插头、IEEE1394插座及IEEE1394芯片均包括一接地引脚、两对差分信号引脚、一电源引脚，所述测试头包括至少一接地测试插孔、两对差分信号测试插孔、一电源信号测试插孔，所述IEEE1394插头、IEEE1394插座、IEEE1394芯片上的接地引脚及测试头上的接地测试插孔相互连接，所述IEEE1394插头、IEEE1394插座、IEEE1394芯片上的电源引脚及测试头上的电源信号测试插孔相互连接，所述IEEE1394芯片的两对差分信号引脚与所述测试头上的两对差分信号测试插孔对应连接，所述切换开关模组连接在所述IEEE1394芯片与所述IEEE1394插头、IEEE1394插座之间，用于选择性地将所述IEEE1394芯片的两对差分信号引脚与所述IEEE1394插头或IEEE1394插座上的两对差分信号引脚对应相连。

相较现有技术，本发明IEEE1394接口测试装置通过所述IEEE1394芯片及切换开关模组选择性的连接至所述IEEE1394插头及IEEE1394插座，并通过所述测试头将测试的信号引出来，由于不需额外购买符合IEEE1394规范的IEEE1394设备，故可大大节省测试成本。

附图说明

下面参照附图结合较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：

图1为本发明IEEE1394接口测试装置较佳实施方式的示意图。

图2为本发明IEEE1394接口测试装置较佳实施方式的电路图。

主要元件符号说明

IEEE1394接口测试装置    100

电路板体                10

IEEE1394芯片            U1

IEEE1394插头            J1

IEEE1394插座            J2

切换开关模组            K

测试头                  J3-J5

测试插孔                G、A+、A-、B+、B-、VP

引脚                    G、TPB+、TPB-、TPA+、TPA-、VP

单刀双掷开关        K1-K4

掷点                1、2

刀部                3

具体实施方式