[发明专利]安全芯片的测试方法与系统

权利要求书

1.一种安全芯片的测试方法，其特征是，包括：

从所述安全芯片的接口读取其送出的随机数；

将所述随机数通过移位寄存器后进行加密或解密；

将所述加密或解密的结果送到所述安全芯片接口；

所述安全芯片对所述加密或解密的结果与其自身的处理结果进行比对，比对结果一致，则通过身份确认，对所述安全芯片进行测试。

2.根据权利要求1所述的安全芯片的测试方法，其特征是，在以上测试过程中，保持所述安全芯片处于工作状态。

3.一种安全芯片的测试系统，其特征是，包括：

测试平台，以放置所述安全芯片，并将所述安全芯片的接口引出；

移位寄存器，与所述测试平台信号连接，读取所述安全芯片的接口送出的随机数；

加解密发生器，信号连接于所述移位寄存器与测试平台，获取所述移位寄存器所接收到的随机数，并对所述随机数进行加密或解密，并将所述加密或解密的结果送到所述安全芯片接口。

4.根据权利要求3所述的安全芯片的测试系统，其特征是，所述测试平台在芯片测试过程中保持安全芯片处于工作状态。

5.根据权利要求3所述的安全芯片的测试系统，其特征是，所述加解密发生器与所述移位寄存器集成在一起。

6.根据权利要求3所述的安全芯片的测试系统，其特征是，所述加解密发生器包括控制单元以及分别与所述控制单元信号连接的存储单元、算法运算单元和接口单元，其中，

所述存储单元存储算法运算单元运算所需的密钥；

所述算法运算单元在所述控制单元的控制下，通过所述接口单元获取所述随机数，并获取所述存储单元内的密钥，并对所述随机数进行加密或解密运算，并将所述加密或解密的结果通过所述接口单元送到所述安全芯片接口。

7.一种安全芯片的测试系统，其特征是，包括：

测试平台，以放置所述安全芯片，并将所述安全芯片的接口引出；

移位寄存器，与所述测试平台信号连接，读取所述安全芯片的接口送出的随机数；

加解密工作站，信号连接于所述移位寄存器，获取所述移位寄存器所接收到的随机数，并对所述随机数进行加密或解密，并将所述加密或解密的结果送到所述安全芯片接口。

8.根据权利要求7所述的安全芯片的测试系统，其特征是，所述测试平台在芯片测试过程中保持安全芯片处于工作状态。

9.根据权利要求3所述的安全芯片的测试系统，其特征是，所述加解密工作站为计算机，其内设置有存储器，且所述存储器内存储有加解密运算程序与密钥，且

所述计算机通过其接口接收所述移位寄存器所接收到的随机数，并调用存储器内的加解密运算程序与密钥，对所述随机数进行加密或解密，并将所述加密或解密的结果送到所述安全芯片接口。