[发明专利]阵列基板、液晶面板和液晶显示器以及制造和检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示技术，尤其涉及一种阵列基板、液晶面板和液晶显示器以及制造和检测方法。

背景技术

液晶显示器是目前常用的平板显示器，其中薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，简称TFT-LCD)是液晶显示器中的主流产品。液晶面板是液晶显示器中的重要部件，主要包括对盒设置的阵列基板和彩膜基板，期间填充有液晶层。

在现有技术中，为了提高产品良率，液晶面板显示画面的检查工序是必不可少的。图1为现有技术中阵列基板上的检测结构示意图，图2为现有技术中液晶面板的检测结构示意图，如图1和2所示，阵列基板的第一衬底基板11上形成有横纵交叉的多条数据线13和栅线12，围设形成矩阵形式排列的多个像素单元。像素单元所在区域可称为像素区域，阵列基板上除了像素区域以外的周边区域可称为外围区域。数据线13和栅线12分别通过数据线引线131和栅线引线121延伸至外围区域中，以便与驱动电路相连。阵列基板上还形成有多条公共电极线14，公共电极线14一般与栅线12同层形成且相互平行，公共电极线14延伸至外围区域，以便与彩膜基板上的公共电极相连。公共电极线14一般通过汇聚线15连通至阵列基板的四角。彩膜基板的第二衬底基板上形成间隔设置的彩膜树脂和黑矩阵，并形成有覆盖整个第二衬底基板的公共电极。阵列基板和彩膜基板对盒后，公共电极线和公共电极之间通过封框胶内的导电球相导通。在对液晶盒进行检测时，通过检测设备上的金属针16接触液晶盒上的信号输入点，也即数据线13、栅线12以及公共电极线14延伸至外围区域的部分，给液晶盒上的阵列基板送入驱动信号，在驱动信号的驱动下检测显示画面是否异常。

采用上述方案对液晶面板进行检测的缺陷在于，无法检测出阵列基板外围区域的裂纹和破损。

发明内容

本发明提供一种阵列基板、液晶面板和液晶显示器以及制造和检测方法，以检测液晶面板外围区域的裂纹和破损。

本发明提供一种阵列基板，所述阵列基板上至少形成有栅线、数据线和公共电极线以及栅线引线和数据线引线，还包括：设置在所述阵列基板的外围区域四周的第一测试线；

所述第一测试线具有两个第一测试端，且所述两个第一测试端上方均设有接触过孔，所述接触过孔中填充有接触电极，所述接触电极暴露在所述阵列基板的表面。

本发明提供一种液晶面板，包括对盒设置的阵列基板和彩膜基板，其间填充有液晶层，所述阵列基板采用上述的阵列基板。

本发明提供一种液晶显示器，包括上述液晶面板。

本发明提供一种阵列基板的制造方法，至少包括形成栅线、数据线和公共电极线以及栅线引线和数据线引线的步骤，还包括：

在所述阵列基板的外围区域四周形成第一测试线，且所述第一测试线具有两个第一测试端；

在所述两个第一测试端上方形成接触过孔，并在所述接触过孔中填充接触电极，所述接触电极暴露在所述阵列基板的表面。

本发明提供一种液晶面板的制造方法，包括分别制作阵列基板和彩膜基板，且将所述阵列基板和彩膜基板对盒并填充液晶层的流程，制作阵列基板的流程还包括：上述的阵列基板的制造方法。

本发明提供一种如上述的液晶面板的检测方法，包括：

将测试探针分别与设置在阵列基板的外围区域四周的第一测试线的两个测试端连接，获取所述测试探针之间的电特性参数值；

根据所述电特性参数值，确定所述液晶面板存在破损。

本发明提供的阵列基板、液晶面板和液晶显示器以及制造和检测方法，通过采用测试探针在第一测试线的两个第一测试端上测试第一测试线的电阻或者电流，确定阵列基板外围区域是否存在破损和裂纹，提高了液晶面板检测的可靠性。

附图说明

图1为现有技术中阵列基板上的检测结构示意图；

图2为现有技术中液晶面板的检测结构示意图；

图3为本发明阵列基板实施例一的俯视结构示意图；

图4为本发明阵列基板实施例二中数据线测试线的结构示意图；

图5为图4所示阵列基板沿A-A向的剖面结构示意图；

图6为本发明阵列基板实施例二中栅线测试线的局部结构示意图；

图7为图6所示阵列基板沿B-B向的剖面结构示意图；

图8为图4所示阵列基板实施例一中第一测试端的局部结构示意图；

图9为本发明阵列基板实施例三的结构示意图；

图10为与本发明阵列基板实施例三对应的彩膜基板的结构示意图；