[发明专利]喷墨记录装置有效
申请号: | 201010237855.8 | 申请日: | 2010-07-23 |
公开(公告)号: | CN102001223A | 公开(公告)日: | 2011-04-06 |
发明(设计)人: | 岩崎芳生;原田信浩;樱场正彦 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立产机系统 |
主分类号: | B41J2/115 | 分类号: | B41J2/115;B41J2/01 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 喷墨 记录 装置 | ||
技术领域
本发明涉及喷墨记录装置,通过由使用者选择是否实施在非印字期间进行的最佳带电相位检测处理,能够进行高频率印字,并且,对墨喷出压力、周围温度或其两者进行监视,在带电相位可能从最佳带电相位偏离的情况下通知使用者,从而防止印字品质紊乱。
背景技术
在喷墨记录装置中,将从喷嘴喷出的墨以一定周期颗粒化,在该颗粒化的瞬间的最佳时刻(タィミング)使其带上与印字信息相应的电荷从而发生偏转,由此进行印字。此时,若进行带电的时刻偏离则会造成印字品质劣化,所以为了检测出进行带电的最佳时刻,将颗粒化周期分为N相,按每1/N相使带电相位偏移并使墨颗粒带上不会发生偏转的程度的电,根据各个带电量进行最佳的带电相位的检测。因为最佳带电相位的偏离受到墨喷出压力、周围温度等变化的影响,所以该最佳带电相位的检测在印字与印字之间的非印字期间进行。
此处,印字速度即高频率印字性能是表示喷墨记录装置的性能的一个指标,作为用于提高印字速度的一个方法存在缩短印字与印字之间的非印字期间的方法。在印字与印字之间的非印字期间,如之前所述进行最佳带电相位的检测和对墨颗粒施加的与印字信息相应的电荷量的计算等处理,最佳带电相位的检测处理占用印字与印字之间的非印字期间的大约一半的时间。
作为在印字与印字之间的非印字期间进行最佳带电相位的检测处理的喷墨记录装置的示例,如专利文献1所示。
专利文献1:日本特开2003-220707
发明内容
在上述的现有技术中,由于在喷墨记录装置的印字与印字之间的非印字期间进行的最佳带电相位检测处理的处理时间,限制了印字速度。
对此,本发明的目的在于,使喷墨记录装置的使用者能够选择是否实施墨颗粒的最佳带电相位检测处理,当喷墨记录装置的使用者选择不实施墨颗粒的最佳带电相位检测处理的情况下,不实施最佳带电相位的检测处理,以事前设定好的带电相位进行印字动作,由此来缩短印字与印字之间的非印字期间。
此外,目的还在于,在不进行最佳带电相位的检测处理的情况下,监视墨喷出压力和周围温度,当带电相位可能从最佳带电相位偏离的情况下,通知喷墨记录装置的使用者,由此来防止印字品质的紊乱。
为了解决上述问题,本发明的喷墨记录装置能够使墨颗粒的带电相位变为最佳相位,该喷墨记录装置包括:喷嘴;使从喷嘴喷出的墨以任意的周期成为颗粒状的墨颗粒生成机构;从喷嘴喷出的墨喷出的压力检测机构;使墨颗粒带有基于印字信息的电荷和任意的电荷的机构;相对墨颗粒生成周期按每1/N相使带电相位偏移的机构;检测各相位的带电量的机构;根据带电电荷量使带电的墨颗粒偏转的机构;最佳带电相位检测机构,其在不进行印字的期间相对墨颗粒生成周期按每1/N相使墨颗粒带上任意的电荷量,检测各相位的带电量,由此检测墨颗粒的最佳带电相位;和周围温度检测机构,该喷墨记录装置能够选择是否实施墨颗粒的最佳带电相位检测动作。
根据本发明,在喷墨记录装置的使用者选择不实施墨颗粒的最佳带电相位检测处理的情况下,能够缩短喷墨记录装置的印字与印字之间的非印字间隔,与进行最佳带电相位检测处理的情况相比能够实施更加高速的印字动作。
附图说明
图1是表示本发明的喷墨记录装置的结构例的框图。
图2是表示对墨颗粒施加带电电压的时刻与印字文字的印字品质的关系的图。
图3是表示相位传感器检测到的带电电压的波形与相位判定装置检测到的最佳带电相位的关系的图。
图4是表示用于喷墨记录装置的使用者进行最佳带电相位检测的设定的环境设定画面的示例的图。
图5是表示在本发明的喷墨记录装置中使用者选择实施最佳带电相位检测处理的情况的动作例的流程图。
图6是表示在本发明的喷墨记录装置中使用者选择不实施最佳带电相位检测处理的情况的动作例的流程图。
附图标记的说明
100……喷墨记录装置,101……控制装置,101a……最佳带电相位检测实施存储器,101b……最佳带电相位存储器,101c……初始墨压力存储器,101d……初始周围温度存储器,101e……墨压力存储器,101f……周围温度存储器,102……程序存储装置,103……存储器,104……显示装置,105……触摸面板,106……输入装置,107……被印字物检测装置,108……相位判定装置
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