[发明专利]新型漏电检测保护电路有效

专利信息
申请号: 201010237747.0 申请日: 2010-07-27
公开(公告)号: CN102340125A 公开(公告)日: 2012-02-01
发明(设计)人: 黄华道 申请(专利权)人: 黄华道
主分类号: H02H3/32 分类号: H02H3/32
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 代理人: 赵郁军
地址: 325603 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 新型 漏电 检测 保护 电路
【权利要求书】:

1.一种漏电检测保护电路,它包括用于检测漏电流的感应线圈(L1)、用于检测低电阻故障的自检测线圈(L2)、控制芯片(IC1)、内置有铁芯的脱扣线圈(SOL)、可控硅(V4);其特征在于:

该漏电检测保护电路还包括有一个用于检测该漏电检测保护电路是否寿命终止的检测开关(KR-1)。

2.根据权利要求1所述的漏电检测保护电路,其特征在于:所述检测开关(KR-1)的一端经限流电阻(R3)与电源输入端零线/火线相连,另一端与穿过所述用于检测漏电流的感应线圈(L1)和用于检测低电阻故障的自检测线圈(L2)的电源输入端火线/零线相连。

3.根据权利要求2所述的漏电检测保护电路,其特征在于:所述检测开关(KR-1)为常闭开关;

当漏电检测保护电路电源输入端与墙壁内的电源线连接好后,自动产生模拟漏电流,自动检测该漏电检测保护电路是否寿命终止;随即,所述检测开关(KR-1)断开,模拟漏电流消失。

4.根据权利要求2所述的漏电检测保护电路,其特征在于:所述检测开关(KR-1)为常开开关,该检测开关(KR-1)与电源插座的测试按钮(TEST)联动;

按压测试按钮(TEST),所述检测开关(KR-1)闭合,手动产生模拟漏电流,检测该漏电检测保护电路是否寿命终止;释放测试按钮(TEST),所述检测开关(KR-1)断开,模拟漏电流消失。

5.根据权利要求4所述的漏电检测保护电路,其特征在于:该漏电检测保护电路还包括一常闭开关(KR-6);

所述检测开关(KR-1)的一端经所述常闭开关(KR-6)、限流电阻与电源输入端零线/火线相连,另一端与穿过所述用于检测漏电流的感应线圈(L1)和用于检测低电阻故障的自检测线圈(L2)的电源输入端火线/零线相连;

按压测试按钮(TEST),所述检测开关(KR-1)闭合,手动产生模拟漏电流,检测该漏电检测保护电路是否寿命终止;随即,所述常闭开关(KR-6)断开,模拟漏电流消失;释放测试按钮(TEST),所述检测开关(KR-1)断开。

6.根据权利要求1所述的漏电检测保护电路,其特征在于:所述检测开关(KR-1)为常开开关;

该检测开关(KR-1)与复位按钮(RESET)联动,当复位按钮(RESET)被按下时,该检测开关(KR-1)闭合,释放复位按钮前,该检测开关早已断开;

该检测开关(KR-1)的一端与所述可控硅的触发极相连,另一端通过电阻与所述控制芯片(IC1)的工作电源输入端(6)相连;

当漏电检测保护电路电源输入端与墙壁内的电源线连接好后,手动触发可控硅,检测漏电检测保护电路是否寿命终止。

7.根据权利要求1所述的漏电检测保护电路,其特征在于:所述检测开关(KR-1)为常闭开关;

所述检测开关(KR-1)的一端经限流电阻(R3)与电源输入端零线相连,另一端与穿过所述用于检测漏电流的感应线圈(L1)和用于检测低电阻故障的自检测线圈(L2)的电源输入端零线相连;

当漏电检测保护电路电源输入端与墙壁内的电源线连接好后,自动产生低电阻故障电流,检测漏电检测保护电路是否寿命终止。

8.根据权利要求1-7之一所述漏电检测保护电路,其特征在于:所述脱扣线圈(SOL)的一端与电源输入端的火线相连;脱扣线圈(SOL)的另一端通过常闭开关(K1)和常开开关(K2)与可控硅(V4)的阳极、控制芯片(IC1)的工作电源输入端相连,为可控硅(V4)和控制芯片(IC1)提供工作电源。

9.根据权利要求1-7之一所述漏电检测保护电路,其特征在于:所述脱扣线圈(SOL)的一端与电源输入端的火线相连;另一端直接与可控硅(V4)的阳极相连,为其提供工作电源,脱扣线圈(SOL)的另一端通过常闭开关(K1)和常开开关(K2)与控制芯片(IC1)的工作电源输入端相连,为控制芯片(IC1)提供工作电源。

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