[发明专利]三维测量系统及其三维扫描装置有效

专利信息
申请号: 201010236272.3 申请日: 2010-07-22
公开(公告)号: CN102338617A 公开(公告)日: 2012-02-01
发明(设计)人: 钟若飞;宫辉力;王留召;刘先林 申请(专利权)人: 首都师范大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 北京市惠诚律师事务所 11353 代理人: 雷志刚
地址: 100048 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 三维 测量 系统 及其 扫描 装置
【权利要求书】:

1.一种三维扫描装置,包括一具有360度扫描视场的激光扫描仪及一具有一旋转中心且绕所述旋转中心水平旋转的电子转台,所述激光扫描仪安装在所述电子转台上,所述激光扫描仪的一扫描面与所述电子转台之间具有一特定角度。

2.如权利要求1所述的三维扫描装置,其特征在于:所述三维扫描装置还包括一调整所述特定角度的大小的举升装置,所述举升装置安装在所述激光扫描仪和电子转台之间。

3.如权利要求1所述的三维扫描装置,其特征在于:所述特定角度为45度。

4.一种三维测量系统,包括一定位定姿装置、一通过扫描获取一被测目标物体的几何数据的360度的激光扫描仪、一具有一旋转中心且绕所述旋转中心水平旋转的电子转台、一获取所述电子转台的绝对位置数据的定位定姿装置及一将所述电子转台的绝对位置数据和所述激光扫描仪获取的几何数据进行融合处理的数据处理装置,所述定位定姿装置及所述激光扫描仪安装在所述电子转台上,所述激光扫描仪的一扫描面与所述电子转台之间具有一特定角度。

5.如权利要求4所述的三维测量系统,其特征在于:所述特定角度为45度。

6.如权利要求4所述的三维测量系统,其特征在于:所述三维测量系统还包括一调整所述特定角度的大小的举升装置,所述举升装置安装在所述激光扫描仪和电子转台之间。

7.如权利要求4所述的三维测量系统,其特征在于:所述激光扫描仪在所述电子转台上以所述特定角度的余角固定在所述定位定姿装置上。

8.如权利要求4所述的三维测量系统,其特征在于:所述电子转台的绝对位置信息包括所述电子转台的旋转中心在全球统一坐标系下的坐标以及所述电子转台绕其旋转中心所旋转的角度。

9.如权利要求4所述的三维测量系统,其特征在于:所述三维测量系统还包括至少一用于获取所述被测目标物体的纹理数据的照相机,所述至少一照相机架设在所述激光扫描仪上,且所述至少一照相机的镜头方向与所述激光扫描仪的扫描面平行,所述数据处理装置还将所述照相机获取的纹理数据与所述几何数据和所述电子转台的绝对位置数据一起进行融合处理。

10.如权利要求9所述的三维测量系统,其特征在于:所述定位定姿装置通过发送一每秒脉冲信号及一串口时间信号给所述激光扫描仪和所述至少一照相机以与所述激光扫描仪和所述照相机同步工作。

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