[发明专利]电池组件透光层透射率的模拟测试装置及其测试方法有效

专利信息
申请号: 201010231995.4 申请日: 2010-07-16
公开(公告)号: CN101915751A 公开(公告)日: 2010-12-15
发明(设计)人: 吴旻 申请(专利权)人: 常州亿晶光电科技有限公司
主分类号: G01N21/59 分类号: G01N21/59;G01M11/02;G01R19/00
代理公司: 常州市维益专利事务所 32211 代理人: 周祥生
地址: 213200 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 电池 组件 透光 透射率 模拟 测试 装置 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种电池组件透光层透射率的模拟测试装置,其特征是:包括白光光源(1)、单色光分光系统(2)、准直器(3)、反射镜(4)、样品台(5)、接线柱(6)、微信号处理系统(7)及终端信息处理系统(8),单色光分光系统(2)、准直器(3)、反射镜(4)、样品台(5)和接线柱(6)都置于暗箱(9)中,且准直器(3)对准单色光分光系统(2)的出射狭缝,反射镜(4)设置在准直器(3)和样品台(5)之间,接线柱(6)位于样品台(5)旁,接线柱(6)与微信号处理系统(7)电连接,单色光分光系统(2)与终端信息处理系统(8)电连接,微信号处理系统(7)与终端信息处理系统(8)电连接。

2.利用电池组件透光层透射率的模拟测试装置的测试方法如下:

第一步,准备基准光电探测器a和待测光电探测器b(12),它们都是对300-1200nm波长均有具特征性的光电响应的探测器,基准光电探测器a和待测光电探测器b(12)都具有电极及导线,可以将其使用光能转换而成的电信号引出;

第二步,对电池组件透光材料透射率的模拟测试装置进行调试,准备稳定的白光光源(1),利用汞灯光谱的特征谱线校准单色光分光系统(2),首先校准0级,其次校准1级:可任选一条汞的特征谱线校准;调节白光光源(1)使其射出平行光,进入单色光分光系统(2),经过分光后,特定波长的单色光由单色光分光系统(2)的出射狭缝射出,光线经过准直器(3)准直后,经过反射镜(4)改变角度,照射在样品台(5)上,调试好后待用;

第三步,调节单色光的波长,测量出基准光电探测器a在这种对应波长条件下的短路电流S1(λ),具体方法为:将基准光电探测器a放在样品台(5)上,将其输出导线接在接线柱(6)上,调节白光光源(1)使其射出平行光,进入单色光分光系统(2),经过分光后,特定波长的单色光由单色光分光系统(2)的出射狭缝射出,光线经过准直器(3)准直后,经过反射镜(4)改变角度,照射放置在样品台(5)上的基准光电探测器a上,从终端信息处理系统(8)上将单色光波长与使用该波长产生的电信号对应记录,分别记录下在对应的波长和条件下的短路电流S1(λ);

第四步,按照第三步的测试方法测试待测光电探测器b(12)在对应波长条件下的短路电流S2(λ);

第五步,准备待测样品,取待测透光玻璃(10)、待测EVA(11)、TPT(13)和待测光电探测器b(12),其中待测透光玻璃(10)的尺寸大于待测光电探测器b(12)的光敏面,用待测透光玻璃(10)、待测EVA(11)、待测光电探测器b(12)和TPT(13)制作组件样品,层叠顺序由上至下依次为待测玻璃(10)、待测EVA(11)、待测光电探测器b(12)、待测EVA(11)和TPT(13),且待测透光玻璃(10)的光面向上,毛面向下,待测光电探测器b(12)的光敏面向上,毛面向下,然后按太阳能电池层压件工艺进行层压、高温固化及冷却工艺形成待测样品;

第六步,按照第三步的测试方法测量出基准光电探测器a在这种对应波长条件下的短路电流S3(λ);

第七步,按照第三步的测试方法测量出待测样品在对应波长条件下的短路电流S4(λ),具体方法为:将待测样品放在样品台(5)上,将其输出导线接在接线柱(6)上,调节白光光源(1)使其射出平行光,进入单色光分光系统(2),经过分光后,特定波长的单色光由单色光分光系统(2)的出射狭缝射出,光线经过准直器(3)准直后,经过反射镜(4)改变角度,照射放置在样品台(5)上的待测样品上,从终端信息处理系统(8)上记录下在对应波长条件下,待测样品的短路电流S4(λ);

第八步,计算公式如下:

T(λ)=S3(λ)S4(λ)S1(λ)S2(λ)]]>

计算出待测透光玻璃(10)和待测EVA(11)复合层的透光透射率式中,λ为单色光波长,T(λ)为透射材料在对应波长下的透射率;S1(λ)是在对应波长条件下基准光电探测器a第一次测试的短路电流;S2(λ)是在对应波长条件下,待测光电探测器b(12)第一次测试的短路电流;S3(λ)为在应波长条件下,基准光电探测器a第二次测试的短路电流;S4(λ)为在对应波长条件下,由待测透光玻璃(10)、待测EVA(11)、待测光电探测器b(12)、待测EVA(11)和TPT(13)制成的待测样品测试的短路电流。

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