[发明专利]物体检测系统及物体检测方法无效
| 申请号: | 201010231427.4 | 申请日: | 2010-07-20 |
| 公开(公告)号: | CN101968624A | 公开(公告)日: | 2011-02-09 |
| 发明(设计)人: | 田口步 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
| 主分类号: | G03H1/00 | 分类号: | G03H1/00;G02B5/32 |
| 代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 陈桂香;武玉琴 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 物体 检测 系统 方法 | ||
1.一种物体检测系统,其包括:
光发射部,它用于向物体发射呈二维图案的光;
光扫描块,它用于通过在预先确定的空间内连续地改变所述呈二维图案的光的发射方向来执行扫描操作;
光反射体,它附设在所述物体上的预定位置处以用作检测对象,并用于将所述呈二维图案的光沿着与所述呈二维图案的光的所述发射方向相反的方向反射;
反射光检测部,它用于检测被所述光反射体反射而成为到达所述反射光检测部的光的所述光;以及
反射光分析部,它用于基于代表着被所述反射光检测部检测到的所述反射光的信号,来计算所述光反射体的垂直方向角度和水平方向角度,所述垂直方向角度和所述水平方向角度分别是由从所述光发射部到所述光反射体的连线与分别处于垂直方向或水平方向上的基准线形成的。
2.如权利要求1所述的物体检测系统,其中所述二维图案被配置成包括代码序列,所述代码序列是通过使用表示正方形图案的有无的二维M序列随机数而生成的。
3.如权利要求1所述的物体检测系统,其中所述反射光分析部进行如下计算:
通过识别所述代码序列,计算所述光反射体的所述垂直方向角度和所述水平方向角度之中的一者;以及
通过检测被识别的所述代码序列的相移,计算所述光反射体的所述垂直方向角度和所述水平方向角度之中的另一者。
4.如权利要求1所述的物体检测系统,其中所述反射光分析部通过以下方式来计算所述垂直方向角度和所述水平方向角度:
针对所述代码序列中的每一者,求出代表着被检测到的所述光的所述信号的傅立叶变换信号的复共轭与对应于被检测到的所述光的所述代码序列的傅立叶变换代码序列之间的内积;以及
对所述内积中的每一者进行逆傅立叶变换处理。
5.如权利要求1所述的物体检测系统,其中所述反射光分析部根据由所述代码序列之中的特定一者所产生的光的输出水平与由所述代码序列之中的另一者所产生的光的输出水平的比率,通过内分来计算出值以求出所述光反射体的垂直方向方位。
6.如权利要求1所述的物体检测系统,其中所述物体检测系统包括:
两对构件,其中每一对均由所述光发射部和所述光扫描块构成;以及
位置检测构件,它用于对于各自都由所述光发射部和所述光扫描块构成的所述两对构件之中的每一对,根据作为所述光反射体的所述垂直方向角度和所述水平方向角度而从代表着所述反射光的所述信号求出的垂直方向角度和水平方向角度,来计算所述光反射体在三维坐标系中的位置。
7.一种物体检测方法,其包括以下步骤:
向物体发射呈二维图案的光;
通过在预先确定的空间内连续地改变所述呈二维图案的光的发射方向来执行扫描操作;
使附设在所述物体上的预定位置处的检测对象将所述呈二维图案的光沿着与所述呈二维图案的光的所述发射方向相反的方向反射;
检测来自所述检测对象的所述反射光;以及
基于代表着被检测到的所述反射光的信号,计算所述检测对象的垂直方向角度和水平方向角度,所述垂直方向角度和所述水平方向角度分别是由从用于发射所述呈二维图案的光的光发射部到所述检测对象的连线与分别位于垂直方向或水平方向上的基准线形成的。
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