[发明专利]静态消光比测量装置及静态消光比测量方法无效
| 申请号： | 201010228528.6 | 申请日： | 2010-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN102338692A | 公开（公告）日： | 2012-02-01 |
| 发明（设计）人： | 樊仲维;孙海江;王家赞 | 申请（专利权）人： | 北京国科世纪激光技术有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区西*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 静态 测量 装置 测量方法 | ||
1.一种静态消光比测量方法，其包括如下步骤：
提供沿光路设置的一个激光器、一个起偏器、一个检偏器和一个光电传感器件；
安装待测光学元件之前，旋转所述检偏器，测得功率最小值P0；
将待测光学元件安装在所述起偏器和检偏器之间，旋转所述检偏器，通过所述光电传感器件找出功率最大值Pmax、功率最小值Pmin；
根据所述Pmax和Pmin计算所述待测光学元件的消光比Ex。
2.根据权利要求1所述的静态消光比测量方法，其特征在于，所述方法用于测量电光晶体材料。
3.根据权利要求1所述的静态消光比测量方法，其特征在于，根据方程EX＝10lg(Pmax/Pmin)来计算静态消光比。
4.一种静态消光比测量装置，其包括一个激光器、一个起偏器、一个用于安装待测光学元件的工装、一个检偏器、一个光电传感器件，其特征在于，所述检偏器可以独立地绕光轴旋转。
5.根据权利要求4所述的静态消光比测量装置，其特征在于，所述静态消光比测量装置还包括一个具有多个滑动座的导轨，所述激光器、起偏器、工装、检偏器、光电传感器件中的至少一个设置在所述滑动座上。
6.根据权利要求4所述的静态消光比测量装置，其特征在于，所述静态消光比测量装置还包括一个扩束镜和一个缩束镜，所述激光器、起偏器、扩束镜、工装、缩束镜、检偏器、光电传感器件沿光路依序设置。
7.根据权利要求6所述的静态消光比测量装置，其特征在于，所述静态消光比测量装置还包括一个可调口径的光阑，其设置在所述扩束镜和工装之间。
8.根据权利要求6所述的静态消光比测量装置，其特征在于，所述静态消光比测量装置还包括一个衰减片，其设置在所述激光器和起偏器之间。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京国科世纪激光技术有限公司，未经北京国科世纪激光技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010228528.6/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
