[发明专利]内部自检查电阻桥和方法

权利要求书

1.一种电阻桥，包括：

电流源；

耦合到第二内部电阻器的第一内部电阻器，所述第一内部电阻器和所述第二内部电阻器耦合到所述电流源；

耦合到所述第一内部电阻器和所述第二内部电阻器的测量电路，所述测量电路用于测量所述第一电阻器的第一电参数、所述第二电阻器的第二电参数、并且测量所述第一电阻器和所述第二电阻器的组合的第三电参数；以及

耦合到所述测量电路的微处理器，所述微处理器用于使用所测量的第一电参数、所测量的第二电参数以及所测量的第三电参数确定所述电阻桥是否具有线性度。

2.如权利要求1所述的电阻桥，其中，所述第一内部电阻器和第二内部电阻器串联耦合到一起。

3.如权利要求2所述的电阻桥，其中，所述第一测量电路是电压测量电路并且所述第一电参数是所述第一内部电阻器两端的第一电压，所述第二电参数是所述第二内部电阻器两端的第二电压，所述第三电参数是所述第一内部电阻器和所述第二内部电阻器的组合两端的第三电压。

4.如权利要求3所述的电阻桥，其中，第一内部电阻器和第二内部电阻器具有基本相等的电阻值。

5.如权利要求4所述的电阻桥，其中，通过将所述第一电压和所述第三电压转换为第一比值并且将所述第二电压和所述第三电压转换为第二比值，对所述第一比值和所述第二比值进行求和，并且将所求和的比值与值一进行比较来确定线性度。

6.如权利要求2所述的电阻桥，其中，所述测量电路用于测量所述第一内部电阻器和所述第二内部电阻器的组合两端的第四电压，并且其中确定所述电阻桥是否具有线性度包括将所述第一电压和所述第三电压转换为第一电阻比值，将所述第二电压和所述第四电压转换为第二电阻比值，对所述第一电阻比值和所述第二电阻比值进行求和以获得值并且将所述值与值一进行比较。

7.如权利要求1所述的电阻桥，其中，所述电流源可逆。

8.一种电阻桥，包括：

电流源；

串联耦合到一起的至少两个内部电阻器，所述至少两个内部电阻器耦合到所述电流源；

用于耦合到所述两个内部电阻器的第一电压测量电路，所述第一电压测量电路配置为测量所述至少两个内部电阻器中的一个两端的第一电压并且测量所述至少两个内部电阻器的组合两端的第二电压；

用于耦合到所述两个内部电阻器的第二电压测量电路，所述第二电压测量电路配置为测量所述至少两个内部电阻器中的一个两端的第三电压并且测量所述至少两个内部电阻器的组合两端的第四电压；以及

耦合到所述第一和第二电压测量电路的微处理器，所述微处理器用于使用所述第一电压、所述第二电压、所述第三电压和所述第四电压确定所述电阻桥是否具有线性度。

9.如权利要求8所述的系统，还包括两个开关，每一个开关配置为将每一个电压测量电路耦合到所述至少两个内部电阻器并且将每一个电压测量电路与所述至少两个内部电阻器断开。

10.如权利要求8所述的系统，其中，所述至少两个电阻器具有基本相等的电阻值。

11.如权利要求9所述的系统，其中，所述微处理器用于通过将所述第一电压和所述第二电压转换为第一电阻比值，将所述第三电压和所述第四电压转换为第二电阻比值，对所述第一电阻比值和所述第二电阻比值进行求和以获得值并且将所述值与一进行比较来确定所述电阻桥具有线性度。

12.如权利要求11所述的系统，其中，在所述值与一基本不同时，所述电阻桥非线性。

13.一种确定具有串联耦合到第二内部电阻器的第一内部电阻器的电阻桥的线性度的方法，包括：

感应沿第一方向通过所述第一内部电阻器和所述第二内部电阻器的电流；

测量所述第一内部电阻器两端的第一电压；

测量所述第一内部电阻器和所述第二内部电阻器的组合两端的第二电压；

测量所述第二内部电阻器两端的第三电压；以及

使用所述第一电压、所述第二电压以及所述第三电压，确定所述电阻桥是否非线性运作。