[发明专利]液晶显示面板及触摸面板有效
| 申请号: | 201010220839.8 | 申请日: | 2010-07-01 |
| 公开(公告)号: | CN101943812A | 公开(公告)日: | 2011-01-12 |
| 发明(设计)人: | 佐佐木和广 | 申请(专利权)人: | 卡西欧计算机株式会社 |
| 主分类号: | G02F1/133 | 分类号: | G02F1/133;G02F1/1362;G02F1/1343;G06F3/041 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 黄剑锋 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 液晶显示 面板 触摸 | ||
相关申请的交叉引用
本申请基于2009年7月1日提出的日本专利申请第2009-157114号并主张其优先权,这里引用其全部内容。
技术领域
本发明涉及液晶显示面板及触摸面板。
背景技术
作为液晶显示面板,有具有触摸面板功能的类型(例如日本特开2007-95044号公报、日本特开2007-58070号公报)。
以往,上述具有触摸面板功能的液晶显示面板如以下这样构成:在夹着液晶层配置的第1和第2基板的相互对置的面上,分别设置通过电压的施加来控制液晶分子的取向状态而控制光的透射的用来形成多个像素的电极,并且在上述第1基板面上,对应于上述多个像素间的区域而设置用来检测相互交叉的X方向和Y方向中的上述X方向的触摸点坐标的多个X坐标检测线、和用来检测上述Y方向的触摸点坐标的多个Y坐标检测线,在上述X坐标检测线和各Y坐标检测线的其一或两者的线、以及与该线相邻的上述各像素电极之间,将这些坐标检测电极连接在上述各X坐标检测线及上述各Y坐标检测线上而设置,在上述第2基板面上,与上述各坐标检测电极对置地设置通过向上述液晶面板的外面的触摸带来的挠曲变形而与上述坐标检测电极接触的多个触点部。
但是,上述以往的具有触摸面板功能的液晶显示面板必须在上述X坐标检测线和各Y坐标检测线的其一或两者的线与上述各像素电极之间确保上述坐标检测电极的配置空间,所以必须将与上述坐标检测电极的配置部相邻的像素电极从上述坐标检测线较大地离开而形成,为此,与上述触点电极的配置部相邻的像素电极的面积变得很小,使与该像素电极对应的像素的开口率大幅下降。
发明内容
所以,本发明的目的是提供一种能够将与坐标检测电极的配置部相邻的像素电极形成为充分的面积、能够减少与该像素电极对应的像素的开口率下降的液晶显示面板及触摸面板。
本发明的液晶显示面板的技术方案之一具备:像素电极,对配置在该像素电极与对置电极之间的液晶层施加电压;薄膜晶体管,与上述像素电极连接;扫描线,对上述薄膜晶体管供给栅极信号;第1坐标检测线,相对于上述扫描线平行地配置;第1坐标检测电极,在比上述第1坐标检测线更接近于上述液晶层的一侧、并且与上述第1坐标检测线重叠的区域形成;以及第1绝缘膜,形成为上述第1坐标检测线与上述第1坐标检测电极之间的层,并且形成有将上述第1坐标检测线与上述第1坐标检测电极电连接的接触孔。
此外,本发明的触摸面板的技术方案之一具备:像素电极,对配置在该像素电极与对置电极之间的液晶层施加电压;薄膜晶体管,与上述像素电极连接;扫描线,对上述薄膜晶体管供给栅极信号;第1坐标检测线,相对于上述扫描线平行地配置;第1坐标检测电极,在比上述第1坐标检测线更接近于上述液晶层的一侧、并且与上述第1坐标检测线重叠的区域形成;第1绝缘膜,形成为上述第1坐标检测线与上述第1坐标检测电极之间的层,并且形成有将上述第1坐标检测线与上述第1坐标检测电极电连接的接触孔;第1基板,形成有上述像素电极;第2基板,形成有上述对置电极;凸部,与上述第1坐标检测电极对置并且从上述第2基板朝向上述第1基板突出地形成在上述第2基板上,在上述第2基板被按压时使上述第1坐标检测电极与上述对置电极电连接。
此外,本发明的触摸面板的其他技术方案之一具备:像素电极,对配置在该像素电极与对置电极之间的液晶层施加电压;薄膜晶体管,与上述像素电极连接;扫描线,对上述薄膜晶体管供给栅极信号;第1坐标检测线,相对于上述扫描线平行地配置;第1坐标检测电极,在比上述第1坐标检测线更接近于上述液晶层的一侧、并且与上述第1坐标检测线重叠的区域形成;第1绝缘膜,形成为上述第1坐标检测线与上述第1坐标检测电极之间的层,并且形成有将上述第1坐标检测线与上述第1坐标检测电极电连接的接触孔;第1基板,形成有上述像素电极;第2基板,形成有上述对置电极;凸部,形成在上述第2基板与上述对置电极之间,以使上述对置电极中的与上述第1坐标检测电极对置的区域成为比上述对置电极中的与上述像素电极对置的区域更接近于上述第1基板的位置。
根据本发明,能够将与坐标检测电极的配置部相邻的像素电极形成为充分的面积,减少与该像素电极对应的像素的开口率的下降。
本发明的其他特征和优点将在随后的说明中进行阐述,一部分可以通过说明书而明了,或者可以通过本发明的实践而体验到。通过说明书、权利要求书和附图中具体指出的结构,可以实现或获得本发明的这些和其它优点。
附图说明
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