[发明专利]使用四棱锥镜产生结构照明的荧光显微方法和装置有效
申请号: | 201010218778.1 | 申请日: | 2010-07-06 |
公开(公告)号: | CN101893755A | 公开(公告)日: | 2010-11-24 |
发明(设计)人: | 雷铭;姚保利;叶彤 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G02B21/06 | 分类号: | G02B21/06;G02B21/36 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 王少文 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 使用 棱锥 产生 结构 照明 荧光 显微 方法 装置 | ||
1.一种使用四棱锥镜产生结构照明的荧光显微方法,其特征在于:其包括以下步骤:
步骤1]激光器(1)发出的一束平行光经扩束准直器(2)后,沿四棱锥镜(3)的底面垂直入射,在四棱锥镜(3)后方放置透镜L1(4)和透镜L2(5),透镜L1(4)和透镜L2(5)组成望远镜系统,在透镜L2(5)后方放置一玻璃片(6),在玻璃片(6)后方形成四光束干涉光场;
步骤2]经荧光染料标记的样品放置于四光束干涉光场中;
步骤3]通过绕x轴转动玻璃片(6)与XY平面之间的夹角,依次改变YZ平面内子光束k2与k4之间的相位差,每次改变三分之一波长相位差,CCD相机(11)同时通过显微物镜(9)分别采集YZ平面内三幅不同相位的二维切面图像(I0,I120,I240)并存储在计算机(12)中;再通过图像运算可以得到样品的层析图像Ix(y,z);
步骤4]沿x轴方向垂直移动显微物镜(9)并重复步骤3],得到样品其它层的二维层析图,最终得到样品完整的三维荧光图像信息I(x,y,z)。
2.根据权利要求1所述的使用四棱锥镜产生结构照明的荧光显微方法,其特征在于:其还包括调整轴向分辨率的步骤:
改变望远镜系统的扩束比可以改变四光束干涉光场强度分布周期,从而改变系统的轴向分辨率。
3.一种使用四棱锥镜产生结构照明的荧光显微装置,包括激光器(1)、结构照明系统、样品池(8)和图像采集系统,其特征在于:所述结构照明系统包括扩束准直器(2)、四棱锥镜(3)和玻璃片(6),所述扩束准直器(2)可将激光器(1)发出的平行光扩束后垂直入射至四棱锥镜(3)的底面;所述样品池(8)放置在四棱锥镜(3)后方的干涉区域,所述玻璃片(6)放置在四棱锥镜(3)和样品池(8)之间。
4.根据权利要求3所述的使用四棱锥镜产生结构照明的荧光显微装置,其特征在于:所述荧光显微装置包括放置在四棱锥镜(3)和样品池(8)之间的透镜L1(4)和透镜L2(5),所述透镜L1(4)和透镜L2(5)构成望远镜系统,所述玻璃片(6)放置在透镜L2(5)和样品池(8)之间。
5.根据权利要求4所述的使用四棱锥镜产生结构照明的荧光显微装置,其特征在于:所述图像采集系统包括依次设置在样品池(8)上方的显微物镜(9)、滤光片(10)、CCD相机(11)以及计算机(12)。
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